发明名称 铜电镀液配方
摘要 一种铜电镀液配方,适用于半导体积体电路的铜电镀制程中。此电镀液配方中具有、铜离子源、电解质、界面活性剂以及(NH2OH)2.H2SO4等成分。应用此电镀液可以在铜电镀制程中提供良好的填洞能力。
申请公布号 TW576875 申请公布日期 2004.02.21
申请号 TW089106592 申请日期 2000.04.10
申请人 伊默克化学科技股份有限公司 发明人 张鼎张;胡荣治;李盈壕;吕志鹏
分类号 C25D3/32 主分类号 C25D3/32
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种铜电镀液配方,适用于半导体制程的铜电镀技术中,其中该配方包括:一铜离子源;复数种电解质;以及一添加剂,其特征为该添加剂包括(NH2OH)2H2SO4且浓度小于10g/L。2.如申请专利范围第1项所述之铜电镀液配方,其中该配方更包括一界面活性剂。3.如申请专利范围第1项所述之铜电镀液配方,其中该铜离子源包括CuSO45H2O。4.如申请专利范围第3项所述之铜电镀液配方,其中该铜离子源的浓度为60至150g/L之间。5.如申请专利范围第1项所述之铜电镀液配方,其中该复数种电解质包括硫酸及氯离子。6.如申请专利范围第5项所述之铜电镀液配方,其中硫酸的浓度为80至150mL/L之间。7.如申请专利范围第5项所述之铜电镀液配方,其中该氯离子的浓度为50至150ppm之间。8.如申请专利范围第1项所述之铜电镀液配方,其中该界面活性剂包括PEG。9.如申请专利范围第8项所述之铜电镀液配方,其中该界面活性剂的浓度为50至200ppm之间。10.如申请专利范围第1项所述之铜电镀液配方,其中该添加剂的浓度为0.01至5g/L之间。图式简单说明:第1A图至第1C图绘示使用本发明所提供之铜电镀液进行铜电镀的示意图。
地址 台北市中山区民权西路三十四号三楼