| 发明名称 |
Apparat zum Messen der in einem Leiterteil induzierten elektrischen Ladung und elektrisches Ladungsmessverfahren |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
DE69532429(D1) |
申请公布日期 |
2004.02.19 |
| 申请号 |
DE19956032429 |
申请日期 |
1995.05.31 |
| 申请人 |
FAB SOLUTIONS, INC. |
发明人 |
SUZUKI, KOUICHI;YAGUCHI, YOUKO;YAMAGUCHI, JUNITI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/067;G01R29/12;G01R29/24;G01R31/01;(IPC1-7):G01R29/24 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
