片上系统的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元

摘要

片上系统的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元，属于集成电路测试技术领域。为了解决现有技术中测试向量压缩效率较低，测试时间较长，不能够适应码流非等间距情况的问题，本发明公开了片上系统的测试数据压缩的编码方法，通过存储程序的计算机执行如下步骤：首先统计原始测试数据中0和1的比例，若原始测试数据中0的数据位少于1的数据位，则将所有的无关位指定为0，按0串编码；否则按1串编码。以位串为基本单元，将所述的测试数据切分开来，统计位串的长度，利用自适应的变长压缩方法编码表将位串长度转变为代码字，实现数据的压缩；解码方法是利用针对自适应的变长压缩方法制作的解码单元来进行解码的。

主权项

1.片上系统的测试数据压缩编码、解码方法，其特征在于：首先，通过存储程序的计算机对测试数据进行压缩编码，包括如下步骤：1)进行测试数据游程的分析，即统计原始测试数据中0和1的比例，若原始测试数据中0的数据位少于1的数据位，则将所有的无关位指定为0，按0串编码；否则将所有的无关位指定为1，按1串编码；2)以位串为基本单元，将所述的测试数据切分开来，统计位串的长度，利用自适应的变长压缩方法编码表将位串长度转变为代码字，实现测试数据的压缩；然后，利用测试设备将压缩的数据导入待测的片上系统；在待测的片上系统配置针对自适应的变长压缩方法制作的解码单元来进行解码，解码单元包括相互连接的有限状态机、计数器和发送控制器，所述有限状态机读入压缩数据，每次串行读入2位数据为一个状态，根据压缩数据代码字的不同而进入不同的状态，并由此对计数器进行置位，发送控制器根据有限状态机的发来的编码输出状态和计数器送来的数据，将解码后的数据发送给系统芯片的内部扫描测试逻辑电路，完成压缩数据的解码。