发明名称 | 光学头 | ||
摘要 | 本发明提供一种基于0级衍射光束和1级衍射光束可以获得良好检测信号的光学头。该光学头包括:用于对来自光源的光束进行整形的整形元件;用于将已被整形元件整形后的光束会聚到光学记录介质上的会聚元件;基于包含在已被光学记录介质反射后的光束内的0级衍射光束和1级衍射光束,用于检测电信号的检测器。采用可摆动方式设置整形元件,从而0级衍射光束入射到检测器上的光点位置和1级衍射光束入射到检测器上的光点位置之间的距离可以被调整。 | ||
申请公布号 | CN1476000A | 申请公布日期 | 2004.02.18 |
申请号 | CN03178457.7 | 申请日期 | 2003.07.17 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 长岛贤治;齐藤阳一 |
分类号 | G11B7/135 | 主分类号 | G11B7/135 |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 刘兴鹏 |
主权项 | 1.一种光学头包括:用于对来自光源的光束进行整形的整形元件;用于将已被整形元件整形后的光束会聚到光学记录介质上的会聚元件;和基于包含在已被光学记录介质反射后的光束内的0级衍射光束和1级衍射光束检测电信号的检测器;其特征在于,采用可摆动方式设置整形元件,从而0级衍射光束入射到检测器上的光点位置和1级衍射光束入射到检测器上的光点位置之间的距离可以被调整。 | ||
地址 | 日本大阪 |