| 发明名称 | 热电控制的X射线检测器阵列 | ||
| 摘要 | 披露一种用于计算机断层扫描系统的X射线检测器组件。X射线检测器组件包括连接在两个导轨之间的检测器单元阵列。热电冷却器连接在每个导轨的端部上，并控制成有选择地加热或冷却检测器阵列以便将该阵列保持在大致等温和热稳定的状态下。检测器组件最好包括主动和被动冷却装置以及用于控制检测器组件温度的绝缘材料。连接在检测器阵列的的电加热器与TEC结合使用以便控制检测器阵列的温度曲线并减少温度梯度的变化。 | ||
| 申请公布号 | CN1475192A | 申请公布日期 | 2004.02.18 |
| 申请号 | CN03143687.0 | 申请日期 | 2003.07.30 |
| 申请人 | GE医疗系统环球技术有限公司 | 发明人 | J·J·拉西;L·F·维克拉茨;D·J·斯奈德 |
| 分类号 | A61B6/03 | 主分类号 | A61B6/03 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 蔡民军;黄力行 |
| 主权项 | 1.一种用于计算机断层扫描器的检测器组件，该检测器组件包括：检测器阵列(44)；连接在检测器阵列(44)上的热电冷却器(104)；连接在检测器阵列(44)上的温度传感器(108)；控制器装置(70)，控制器装置(70)电连接在温度传感器(118)上以便接收实际温度信号，并连接到热电冷却器(104)上以便提供可调整的功率到热电冷却器(104)上，控制器装置(70)将该实际温度信号与设定点值进行比较，并调整供应到热电冷却器(104)上的功率以便将该实际温度保持在该设定点上。 | ||
| 地址 | 美国威斯康星州 | ||