发明名称 Mask for beam exposure having membrane structure and stencil structure and method for manufacturing the same
摘要 In a mask for beam exposure, a membrane structure for endless patterns and a stencil structure for terminated patterns are provided in combination.
申请公布号 US6692877(B2) 申请公布日期 2004.02.17
申请号 US20010982051 申请日期 2001.10.17
申请人 NEC ELECTRONICS CORPORATION 发明人 YAMADA YASUHISA
分类号 G03F7/12;G03F1/14;G03F1/16;G03F1/20;G03F7/20;H01J37/305;H01L21/027;(IPC1-7):G03F9/00 主分类号 G03F7/12
代理机构 代理人
主权项
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