| 主权项 |
1.一种半导体雷射光输出控制电路,其特征在于:系将半导体雷射的光输出因应所供应的驱动电流制在希望强度,具有:光输出检测机构:检测上述半导体雷射的光输出;第一检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第一位准;第二检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第二位准;第一光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第一位准的第一设定値;第二光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第二位准的第二设定値;第一切换机构:切换由上述第一及第二光输出设定机构所赋与的上述光输出的第一及第二设定値信号并予输出;第三检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第一设定値信号;第四检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第二设定値信号;第一比较机构:比较上述第一检波机构的检波输出和上述第三检波机构的检波输出,并输出该比较结果;第二比较机构:比较上述第二检波机构的检波输出和上述第四检波机构的检波输出,并输出该比较结果;第二切换机构:和上述第一切换机构的切换同步,切换上述第一及第二比较机构的比较结果并予输出;及,电流供应机构:供应与上述第二切换机构的输出信号相应的上述驱动电流给上述半导体雷射者。2.如申请专利范围第1项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第一检波机构及第三检波机构包含峰値检波电路,上述第二检波机构及第四检波机构包含底値检波电路。3.如申请专利范围第2项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第一检波机构及第三检波机构的各峰値检波电路具有略相同的电路输出特性,上述第二检波机构及第四检波机构的各底値检波电路具有大致相同的电路输出特性。4.如申请专利范围第1项之半导体雷射光输出控制电路,其中具备第一及第二保持电路:保持上述第一及第二比较机构输出的比较结果,上述第二切换机构系切换上述第一及第二保持电路所保持的上述比较结果,并供应上述切换的比较结果给上述电流供应机构。5.如申请专利范围第1项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述光输出设定机构赋与上述半导体雷射的光输出的设定値作为基准电压値。6.如申请专利范围第1项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述光输出设定机构赋与上述半导体雷射的光输出的设定値作为基准电流値。7.一种半导体雷射光输出控制电路,其特征在于:系将半导体雷射的光输出因应所供应的驱动电流控制在希望强度,具有:光输出检测机构:检测上述半导体雷射的光输出;第一检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第一位准;第二检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第二位准;第三检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的上述第一位准和第二位准之中间的第三位准;第一光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第一位准的第一设定値;第二光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第二位准的第二设定値;至少一个第三光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第三位准的第三设定値;第一切换机构:切换由上述第一、第二及第三光输出设定机构所赋与的上述光输出的第一、第二及第三设定値信号并予输出;第四检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第一设定値信号;第五检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第二设定値信号;至少第六检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第三设定値信号;第一比较机构:比较上述第一检波机构的检波输出和上述第四检波机构的检波输出,输出该比较结果;第二比较机构:比较上述第二检波机构的检波输出和上述第五检波机构的检波输出,输出该比较结果;至少一个第三比较机构:比较上述第三检波机构的检波输出和上述第三检波机构的检波输出,输出该比较结果;第二切换机构:和上述第一切换机构的切换同步,切换上述第一、第二及第三比较机构的比较结果并予输出;及电流供应机构:供应与上述第二切换机构的输出信号相应的上述驱动电流给上述半导体雷射者。8.如申请专利范围第7项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第一检波机构及第四检波机构包含峰値检波电路,上述第二检波机构及第五检波机构包含底値检波电路。9.如申请专利范围第8项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第三检波机构及第六检波机构包含平均値检波电路。10.如申请专利范围第8项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第一检波机构及第三检波机构的各峰値检波电路具有大致相同的电路输出特性,上述第二检波机构及第四检波机构的各底値检波电路具有大致相同的电路输出特性。11.如申请专利范围第9项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第一检波机构及第四检波机构的各峰値检波电路具有大致相同的电路输出特性,上述第二检波机构及第五检波机构的各底値检波电路具有大致相同的电路输出特性,上述第三检波机构及第六检波机构的各平均値检波电路具有大致相同的电路输出特性。12.如申请专利范围第9项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述峰値检波电路、底値检波电路或平均値检波电路中,至少平均値检波电路具有保持功能。13.如申请专利范围第7项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第一、第二及第三比较机构具有保持功能。14.如申请专利范围第12项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述第一、第二及第三比较机构具有保持功能。15.如申请专利范围第7项之半导体雷射光输出控制电路,其中具备第一、第二及第三保持电路:保持上述第一、第二及第三比较机构输出的比较结果,上述第二切换机构切换上述第一、第二及第三保持电路保持的上述比较结果,供应上述切换的比较结果给上述电流供应机构。16.如申请专利范围第7项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述光输出设定机构赋与上述半导体雷射的光输出的设定値作为基准电压値。17.如申请专利范围第7项之半导体雷射光输出控制电路,其中上述光输出设定机构赋与上述半导体雷射的光输出的设定値作为基准电流値。18.一种光装置,其特征在于:系具有将照射于光媒体的半导体雷射的光输出因应所供应的驱动电流控制在希望强度的半导体雷射光输出控制电路,上述半导体雷射光输出控制电路具有:光输出检测机构:检测上述半导体雷射的光输出;第一检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第一位准;第二检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第二位准;第一光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第一位准的第一设定値;第二光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第二位准的第二设定値;第一切换机构:切换输出由上述第一及第二光输出设定机构所赋与的上述光输出的第一及第二设定値信号;第三检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第一设定値信号;第四检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第二设定値信号;第一比较机构:比较上述第一检波机构的检波输出和上述第三检波机构的检波输出,并输出该比较结果;第二比较机构:比较上述第二检波机构的检波输出和上述第四检波机构的检波输出,并输出该比较结果;第二切换机构:和上述第一切换机构的切换同步,切换输出上述第一及第二比较机构的比较结果;及电流供应机构:供应与上述第二切换机构的输出信号相应的上述驱动电流给上述半导体雷射者。19.一种光装置,其特征在于:系具有将照射于光媒体的半导体雷射的光输出因应所供应的驱动电流控制在希度的半导体雷射光输出控制电路;上述半导体雷射光输出控制电路具有:光输出检测机构:检测上述半导体雷射的光输出;第一检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第一位准;第二检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的第二位准;第三检波机构:检测上述光输出检测机构检出的上述光输出的上述第一位准和第二位准中间的第三位准;第一光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第一位准的第一设定値;第二光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第二位准的第二设定値;至少一个第三光输出设定机构:供赋与上述半导体雷射的光输出的第三位准的第三设定値;第一切换机构:切换输出由上述第一、第二及第三光输出设定机构所赋与的上述光输出的第一、第二及第三设定値信号;第四检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第一设定値信号;第五检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第二设定値信号;至少第六检波机构:自上述光输出设定値切换机构的输出中,检测第三设定値信号;第一比较机构:比较上述第一检波机构的检波输出和上述第四检波机构的检波输出,并输出该比较结果;第二比较机构:比较上述第二检波机构的检波输出和上述第五检波机构的检波输出,并输出该比较结果;至少一个第三比较机构:比较上述第三检波机构的检波输出和上述第六检波机构的检波输出,并输出该比较结果;第二切换机构:和上述第一切换机构的切换同步,切换输出上述第一、第二及第三比较机构的比较结果;及电流供应机构:供应与上述第二切换机构的输出信号相应的上述驱动电流给上述半导体雷射者。图式简单说明:图1(A)、(B)为显示半导体雷射的记录发光波形、再生、擦除的DC发光的波形图。图2为显示习知半导体雷射光输出控制电路结构的电路图。图3(A)~(F)为磁光型光碟的格式图和包含在ALPC区域所设定的光输出波形的波形图。图4为显示半导体雷射的等效电路的电路图。图5为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第1实施形态的电路图。图6(A)~(D)为图5的半导体雷射光输出控制电路的切换定时信号、输出电流Is、输出电压Vr及输出电压Vs的波形图。图7为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第2实施形态的电路图,系显示以基准电流赋与各光功率设定时的半导体雷射光输出控制电路结构的电路图。图8为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第3实施形态的电路图,系显示光功率3値以上的多値时的半导体雷射光输出控制电路结构的电路图。图9为显示峰値检波电路、底値检波电路及平均値检波器具体结构例的电路图。图10(A)~(I)为显示在第3实施形态的各检波器使用抽样闸信号的多値控制的半导体雷射光输出控制电路的3値功率设定的引进动作的情况的波形图。图11为显示关于第3实施形态的电压电流控制电路、开关电路、电流放大器具体例的电路图。图12(A)~(E)为显示关于图11的电路的记录发光波形、再生、擦除的DC发光的具体例的波形图。图13为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第4实施形态的电路图。图14为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第5实施形态的电路图。图15为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第6实施形态的电路图。图16为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第7实施形态的电路图。图17为显示关于本发明的半导体雷射光输出控制电路第8实施形态的电路图。图18为显示采用关于本发明的半导体雷射光输出控制电路的光碟装置要部的电路图。 |
