发明名称 一种数位影像取样之方法与装置
摘要 提出一种数位影像降频取样之装置与方法,利用在时间轴上的处理,藉以降低运算及装置架构之复杂度,并解决降频取样时造成的模糊效应及部份影像讯息丧失的问题,达到数位影像降频取样之目的。
申请公布号 TW576105 申请公布日期 2004.02.11
申请号 TW091115760 申请日期 2002.07.11
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 发明人 龚金盛;陈思平
分类号 H04N1/58 主分类号 H04N1/58
代理机构 代理人 何文渊 台北市信义区松德路一七一号二楼
主权项 1.一种数位影像取样装置,可接收至少一输入影像并进行取样,包括有:一画面判断逻辑,可将该输入影像区分为至少二组取样影像;以及,一选取逻辑,接收由该画面判断逻辑所传来之区分后的取样影像,并针对各组取样影像各以一相对应取样点进行像素之取样,并且,依据该不同组之取样影像所选取之相对应取样点不完全相同。2.如申请专利范围第1项所述之数位影像取样装置,更包括有:一资料缓冲暂存器,接受并暂存由选取逻辑所取样之像素后再加以输出成为一取样后之输出影像资料,未被选取之像素则被舍弃。3.如申请专利范围第2项所述之数位影像取样装置,其中,由选取逻辑进行像素取样后之输出影像资料系至少可被区分为一第一组画面以及一第二组画面,其中在该第一组画面所舍弃之资料,保留在与该第一组画面接续之第二组画面。4.如申请专利范围第1项所述之数位影像取样装置,其中,该选取逻辑针对不同组之取样影像所选取之相对应取样点至少有部分系为互补。5.如申请专利范围第1项所述之数位影像取样装置,其中,该画面判断逻辑系依据时间轴之时脉的改变来将输入影像区分为连续且接续之该至少二组取样影像。6.如申请专利范围第1项所述之数位影像取样装置,其中,该画面判断逻辑系将输入影像区分为在时脉上连续之二组取样影像,且该选取逻辑针对该两组取样影像所选择之该等相对应取样点之偏移量分别为1/4以及3/4。7.如申请专利范围第2项所述之数位影像取样装置,其中,该画面判断逻辑系将输入影像区分为在时脉上连续之二组取样影像,且该选取逻辑针对该两组取样影像所选择之相对应取样点之偏移量分别为0以及(M/N)-1,其中M为上述输入影像之垂直/水平像素,N为上述输出影像之垂直/水平像素。8.如申请专利范围第1项所述之数位影像取样装置,其中,该选取逻辑更包括有:一水平像素线选取逻辑,依据所输入之取样影像进行各水平像素线之像素取样,并输出一水平取样讯号;以及一垂直像素选取逻辑,依据所输入之取样影像进行垂直像素取样,并输出一垂直取样讯号;其中该水平取样讯号以及该垂直取样讯号形成一取样后之输出影像资料。9.如申请专利范围第1项所述之数位影像取样装置,其中上述画面判断逻辑为一正反器。10.一种数位影像取样方法,系应用于接收一连续之输入影像并进行取样,该取样方法包括:产生取样讯号,该取样讯号包括至少两组取样模型,并且,该连续之输入影像系依据时脉之变化而被区分为连续接续之至少两组取样影像;取样,系依据前述取样讯号之各组取样模型,分别对前述各组取样影像各以一相对应取样点分别进行像素之取样,并且,依据不同组之取样模型所选取之相对应取样点不完全相同;输出影像,将依据各组取样模型进行取样后之连续接续影像输出而为一取样后之输出影像。11.如申请专利范围第10项所述之数位影像取样方法,其中未被选取之像素则被舍弃。12.如申请专利范围第10项所述之数位影像取样方法,其中,进行像素取样后之输出影像系至少可依据时间变化而被区分成交替之一第一组画面以及一第二组画面,其中在该第一组画面所舍弃之资料,保留在与该第一组画面接续之第二组画面。13.如申请专利范围第10项所述之数位影像取样方法,其中,该各组取样模型中针对不同组之取样影像所选取之相对应取样点至少有部分系为互补。14.如申请专利范围第10项所述之数位影像取样方法,其中,该输入影像系被区分为在时脉上连续之二组取样影像,且与其对应之该两组取样模型针对该两组取样影像所选择之该等相对应取样点之偏移量系分别为1/4以及3/4。15.如申请专利范围第10项所述之数位影像取样方法,其中,该输入影像系被区分为在时脉上连续之二组取样影像,且与其对应之该两组取样模型所选择之相对应取样点之偏移量分别为0以及(M/N)-1,其中M为上述输入影像之垂直/水平像素,N为上述输出影像之垂直/水平像素。16.如申请专利范围第10项所述之数位影像取样方法,其中,该取样之步骤中更包括有:一水平像素线选取步骤,依据所输入之取样影像进行各水平像素线之像素取样,并输出一水平取样讯号;以及一垂直像素选取步骤,依据所输入之取样影像进行垂直像素取样,并输出一垂直取样讯号;其中该水平取样讯号以及该垂直取样讯号形成该取样后之输出影像。17.如申请专利范围第10项所述之数位影像取样方法,其中上述之各取样模型彼此部分互补。图式简单说明:图一系为习知以舍弃法与内插法求得(5:4)降频取样结果的示意图。图二系为习知内插法的电路示意图。图三系为习知舍弃法的电路示意图。图四系为本发明数位影像降频取样之装置示意图。图五系为本发明数位影像降频取样之装置讯号控制图。图六A与图六B系为数位影像各种输出讯号之波形图。图七系为本发明数位影像降频取样之装置架构图。图八A系为图七之奇偶画面判断逻辑之一实施例。图八B系为图八A之输入输出波形图。图九系为图七之像素选取逻辑之装置架构图。图十A至图十C系为本发明数位影像降频取样之发明概念图。图十一B系为本发明Offset0=0.Offset1=(M/N)-1之初始偏移选择累加暂存器之一较佳实施例。图十一A系为图十一B之波形图。图十二系为本发明数位Offset0 = 1/4.Offset1 = 3/4之8位元初始偏移选择累加暂存器的一较佳实施例。图十三系为利用本发明进行降频取样的模拟实施例资料列表。
地址 新竹市新竹科学工业园区工业东九路二号