发明名称 |
新型金属半导体场效应晶体管(MESFET)器件及其制造工艺 |
摘要 |
本发明揭示了结型场效应晶体管(JFET)和金属半导体场效应晶体管MESFET结构及制造工艺,在低电压、高电流、高频中的应用。该结构包含一个位于栅极下面可以有效减小结电容的氧化物层。在一个实施例中,栅极中的硅化物层用来减小栅极阻抗。该结构的一个特征是:由于氧化物隔离层被漂去,栅极可以薄到1000以下,可应用于高速开关。先在沟道边壁上形成一层氧化物隔离层,经过刻蚀,形成通向n型衬底的窗口。淀积多晶硅后,进行第二层氧化物隔离层和钛层的淀积。接着进行热处理,在栅极中形成钛硅合金,沟道氧化物层,以及栅极的p区。去除多余材料后,进行氧化物填充和再刻蚀。对于MESFET,其中的钛由铂代替,第二层隔离层做的薄些。然后使用金属接触。 |
申请公布号 |
CN1474460A |
申请公布日期 |
2004.02.11 |
申请号 |
CN02126030.3 |
申请日期 |
2002.08.09 |
申请人 |
虞和元 |
发明人 |
虞和元 |
分类号 |
H01L29/80;H01L21/337 |
主分类号 |
H01L29/80 |
代理机构 |
北京维澳专利代理有限公司 |
代理人 |
张应 |
主权项 |
1.结型场效应晶体管(JFET)结构,其特征在于包含:一个在n+型基底形成的漏极;一个位于上述n+型基底上的n型基底,同时在该基底中包含一个刻蚀产生的沟道;一个位于上述n型基底上的n+型层,同时在上面形成一个源极;一个位于上述沟道井中的底部氧化层;一个位于上述底部氧化层之上的硅化物层,并且形成一个栅极;一个位于上述n型基底中且和上述牺牲层相邻的p型区;以及一个位于上述沟道中和上述硅化物层上的氧化物填充层。 |
地址 |
台湾省台北市仁爱路二段15巷17号4楼 |