| 发明名称 |
Method of testing and/or debugging a system on chip (SOC) |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2391358(A) |
申请公布日期 |
2004.02.04 |
| 申请号 |
GB20030009712 |
申请日期 |
2003.04.28 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD. |
发明人 |
DONG-KWAN * HAN |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G06F11/22;G11C29/00;(IPC1-7):G06F11/267;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
