集成电路的商标位置检测装置

摘要

本发明涉及一种集成电路的商标位置检测装置，其主要包含检测片及基座；该检测片是由透明抗静电压克力材料制成的片体，其上设有若干检测刻线，适当位置又设有若干定位孔；该基座上设有若干定位销，该若干定位销恰可对应于检测片的若干定位孔；因此，可于钉架上设置若干孔洞，随后将钉架套置于基座与检测片之间，再借助检测刻线来对应集成电路表面的商标进行检测。

主权项

1、一种集成电路的商标位置检测装置，主要包含检测片及基座；其中：该检测片是由透明抗静电压克力材料制成的片体，其上设有若干检测刻线，在其适当位置又设有若干定位孔；该基座上设有若干定位销，该若干定位销对应于该检测片的若干定位孔；因此可将钉架套置于该基座与该检测片之间，再通过该检测刻线来对应集成电路表面的商标进行检测。