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发明名称
测试光罩、光晕圈评估方法、以及光晕圈补偿方法
摘要
透过使用一种线图案,其于测量时变成图案、以及一种带图案呈带状,其变成光晕圈引致图案,形成光透射区环绕线图案,且造成线图案出现局部光晕圈,因带图案对线图案所致局部光晕圈影响被测量作为线图案线宽供评比之用。此外,此种测量值用来补偿局部光晕圈对实际图案的影响。
申请公布号
TW200402112
申请公布日期
2004.02.01
申请号
TW092107788
申请日期
2003.04.04
申请人
富士通股份有限公司
发明人
八尾辉芳;羽入勇;桐越胜义
分类号
H01L21/66;H01L21/027;G03F7/20
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
日本
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