发明名称 Überwachen und Korrigieren von Bragg-Gittern während deren Herstellung
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überwachen und Korrigieren von Bragg-Gittern während deren Herstellung. Während ein Bragg-Gitter (16) in ein Substrat (14) geschrieben wird, werden Messungen vorgenommen, die es ermöglichen, Änderungen beim Schreibprozeß vorzunehmen, um Fehler zu vermindern, die beim Schreiben des Gitters (16) auftreten können. Hierzu können bevorzugt Mehrfach-Abtastungen des Schreibstrahls (U) angewandt werden. Nach einer Abtastung können Messungen der Charakteristiken des geschriebenen Gitters (16) vorgenommen werden und es können Korrekturen an nachfolgenden Abtastungen durchgeführt werden.
申请公布号 DE10329864(A1) 申请公布日期 2004.01.29
申请号 DE20031029864 申请日期 2003.07.02
申请人 INTEL CORPORATION, SANTA CLARA 发明人 SWEETSER, JOHN N.;GRUNNET-JEPSEN, ANDERS
分类号 G01M11/00;G02B5/18;G02B6/02;G02B6/122;G02B6/124;(IPC1-7):G02B6/34 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项
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