发明名称 | 内部电路定时的外调节电路及其方法 | ||
摘要 | 一种通过外部控制使用测试模式控制集成电路内部信号定时的电路和方法。测试模式设计成内部信号的定时是由通过测试器能够随意控制的外部控制中产生的。只要测试模式和集成电路工作之间不产生冲突,外部控制信号可加到现有管脚上以用于芯片控制。 | ||
申请公布号 | CN1136582C | 申请公布日期 | 2004.01.28 |
申请号 | CN98120611.5 | 申请日期 | 1998.09.04 |
申请人 | 西门子公司;国际商业机器公司 | 发明人 | 王欣;桐畑敏明;博兹达·科斯尼克 |
分类号 | G11C29/00;G01R31/30 | 主分类号 | G11C29/00 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹 |
主权项 | 1.在一种计算机系统中的一种对DRAM中的内部控制信号的定时进行外部控制的方法,该方法包括:提供第一和第二信号路径;产生一个确定工作模式的测试模式信号,测试模式信号是第一信号电平时,DRAM器件就处于第一工作模式,测试模式信号是第二信号电平时,DRAM器件就处于第二工作模式;DRAM器件处于第一工作模式时,第一信号路径接收内部信号,并响应内部信号产生第一输出信号,该第一输出信号用于产生第一工作模式中的内部控制信号的定时;DRAM器件处于第二工作模式时,第二信号路径接收提供在集成电路的外部管脚上的外部信号,并响应外部信号产生第二输出信号,该第二输出信号用于产生第二工作模式中的内部控制信号的定时。 | ||
地址 | 联邦德国慕尼黑 |