发明名称 在Ⅲ-V族氮化物半导体基板上制作产生辐射的半导体芯片的方法以及产生辐射的半导体芯片
摘要 本发明涉及一种在III-V族氮化物半导体材料的基板制作具有一个薄膜元件(11)的产生辐射的半导体芯片的方法,首先在外延衬底(100)上淀积薄膜元件(11),该薄膜元件与一个载体(5)连接,然后从该薄膜元件去掉外延衬底(100)。外延衬底(100)具有一个用多晶SiC或多晶GaN或用SiC、GaN或蓝宝石制成的衬底本体(1),该衬底本体借助于一层粘附层(3)与一层生长层(2)连接,并在该生长层上用外延法淀积薄膜元件(11)的层序列。此外,描述了一个这样制作的产生辐射的半导体芯片。
申请公布号 CN1471735A 申请公布日期 2004.01.28
申请号 CN01818140.6 申请日期 2001.08.31
申请人 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 发明人 S·巴德尔;M·费雷尔;B·哈恩;V·海勒;H·J·卢高尔
分类号 H01L33/00;H01S5/323 主分类号 H01L33/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 苏娟;赵辛
主权项 1.在III-V族氮化物半导体材料的基板上制作具有一个薄膜元件(11)的产生辐射的半导体芯片的方法,其步骤是:-在一个外延衬底(100)上淀积薄膜元件(11)的一个层序列;-将该薄膜元件与一个载体(5)连接;-从该薄膜元件去掉外延衬底(100),其特征为:-外延衬底(100)具有一个用多晶SiC或多晶GaN制成的衬底本体(1),该衬底本体借助于一层粘附层(3)与一层生长层(2)连接;-在生长层(2)上用外延法淀积薄膜元件(11)的层序列。
地址 德国雷根斯堡