发明名称 | 证券单据用的磁检测器 | ||
摘要 | 一种用于检测磁性细长颗粒存在于一种基体材料中的检测装置,所述基体材料具有与细长颗粒相应磁性特性实质上不相同的磁性特性。细长颗粒具有长而薄的形状以使其退磁因数N小于1/250,它们具有小于30微米的颗粒直径并且饱和磁场大于100安培/米。所述装置包括:(a)用于发射一个或多个特定基频的电磁信号源信号给所述基体材料,使任何存在的磁性细长颗粒进入它们的B-H曲线的非线性部分持续至少信号源信号的一个周期的一部分的部件;(b)用于检测从所述的基体材料和颗粒发出的电磁检测信号的部件;(c)用于测试在所述基频的或所述基频的任何线性组合的或所述谐波的任何特定谐波出现期间的检测信号的部件,所述特定谐波表示所述磁性细长颗粒的存在。 | ||
申请公布号 | CN1135504C | 申请公布日期 | 2004.01.21 |
申请号 | CN97199918.X | 申请日期 | 1997.12.08 |
申请人 | 贝克特股份有限公司;PA咨询服务有限公司 | 发明人 | 保尔·罗伯森;约汉·非舍尔;约汉·布雷尔 |
分类号 | G07D7/00;G07F7/08 | 主分类号 | G07D7/00 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 马浩 |
主权项 | 1.一种用于检测磁性细长颗粒存在于一种基体材料中的检测装置,所述基体材料具有与细长颗粒的相应磁性特性实质上不相同的磁性特性,所述的细长颗粒具有长而薄的形状以使它的退磁因数N小于1/250、颗粒直径小于30微米并且饱和磁场大于100安培/米,所述装置包括:(a)用于发射一个或多个基频的信号源的信号给所述基体材料的部件;(b)用于检测从所述的基体材料和颗粒发出的检测信号的部件;(c)一个信号处理器,用于检查在所述基频的或所述基频的任何线性组合的任何特定谐波,或所述特定谐波的任何线性组合的任何特定谐波出现期间的检测信号,所述特定谐波表示所述磁性细长颗粒的存在。 | ||
地址 | 比利时茨维夫格姆 |