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发明名称
低温氧化矽晶圆之方法及装置
摘要
本发明提供了一种在低温下将一矽晶圆氧化之方法,该方法包含下列步骤:将一矽晶圆置于一真空室中;将该矽晶圆保持在大约为室温与400℃间之一温度中;将一氧化气体导入该真空室中,且系自其中包含笑气(N2O)、氧化氮(NO)、氧气、及臭氧(O3)的一组氧化气体中选出该氧化气体;以及以自一准分子雷射灯发射的光线来照射该氧化气体及该矽晶圆,以便产生氧自由基再生物,并在该矽晶圆上形成一个氧化物层,该步骤包括使该氧化气体光解,并使光电子自该矽晶圆射出,因而使该等光电子与该氧化气体相互反应。
申请公布号
TW200401371
申请公布日期
2004.01.16
申请号
TW092109769
申请日期
2003.04.25
申请人
夏普股份有限公司
发明人
大野芳睦;雷 布尔;马克 柏克勒
分类号
H01L21/316
主分类号
H01L21/316
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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