发明名称 X射线荧光全息层析成像装置
摘要 一种X射线荧光全息层析成像装置,包括X射线源、相互垂直放置的两块弯曲单晶构成的单色器、沿单色器的光束出射方向依次置有光阑和毛细管;其后是置放样品的样品旋转台,它由计算机控制的步进电机驱动;沿着X射线束的前进方向有一CCD;在样品的荧光方向依次设有双聚焦晶体单色器和荧光探测器,探测器与计算机相连。本发明既可对痕量元素有较高的分辨率,达到亚毫微克量级;又有很高的三维空间分辨率,达到原子分辨率尺度。
申请公布号 CN2599572Y 申请公布日期 2004.01.14
申请号 CN02283444.3 申请日期 2002.12.23
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 高鸿奕;陈建文;谢红兰;徐至展
分类号 G01N23/223 主分类号 G01N23/223
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1、一种X射线荧光全息层析成像装置,包括X射线源(1)、单晶体(2)、单晶体(3)、针孔光阑(4)、样品(6)、样品旋转台(7)、CCD(9)、双聚焦晶体单色器(15)、光阑(16)、荧光探测器(17)和计算机(12),其特征在于:1).所述单晶体(2)和单晶体(3)是具有一定曲率的相互垂直放置构成一单色器;2).样品(6)位于样品旋转台(7)上,在光阑(4)和样品(6)之间设有一直的毛细管(14);3).在样品(6).的X射线荧光出射方向依次设有双聚焦晶体单色器(15)、光阑(16)和探测器(17);4).探测器(17)的输出端与计算机(12)的信号输入端相连;5).所述计算机(12)与样品旋转台(7)的驱动步进电机有信号线相连。
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