发明名称 |
半导体器件、半导体封装以及用于测试半导体器件的方法 |
摘要 |
一种半导体器件(11)用于促进测试。叠加的第一和第二半导体芯片(13、14)分别包括多个内部端子(23-25、27-30)、外部端子(22、27)以及多个晶体管(31-34)。多条线路(15)把第一和第二半导体芯片的内部端子、晶体管以及外部端子相串联。 |
申请公布号 |
CN1467836A |
申请公布日期 |
2004.01.14 |
申请号 |
CN03106722.0 |
申请日期 |
2003.02.27 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
田中裕幸;伊藤由人;関山昭則 |
分类号 |
H01L23/50;H01L25/065;H01L21/50 |
主分类号 |
H01L23/50 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
朱海波 |
主权项 |
1.一种半导体器件(11),其中包括:通过多条线路(15)相互连接的多个半导体芯片(13,14),每个半导体芯片包括连接到多条线路的多个内部端子(23-25,28-30)、第一外部端子(22)、以及第二外部端子(27),并且多个内部端子包括与第一外部端子相邻的第一内部端子(23)以及与第二外部端子相邻的第二内部端子(28);中间开关器件(32,34),其连接在多个内部端子之间,从而多条线路和该内部端子相串联;第一末端开关器件(31),其连接在第一内部端子和第一外部端子之间;以及第二末端开关器件(33),其连接在第二内部端子和第二外部端子之间。 |
地址 |
日本神奈川 |