发明名称 半导体器件、半导体封装以及用于测试半导体器件的方法
摘要 一种半导体器件(11)用于促进测试。叠加的第一和第二半导体芯片(13、14)分别包括多个内部端子(23-25、27-30)、外部端子(22、27)以及多个晶体管(31-34)。多条线路(15)把第一和第二半导体芯片的内部端子、晶体管以及外部端子相串联。
申请公布号 CN1467836A 申请公布日期 2004.01.14
申请号 CN03106722.0 申请日期 2003.02.27
申请人 富士通株式会社 发明人 田中裕幸;伊藤由人;関山昭則
分类号 H01L23/50;H01L25/065;H01L21/50 主分类号 H01L23/50
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 朱海波
主权项 1.一种半导体器件(11),其中包括:通过多条线路(15)相互连接的多个半导体芯片(13,14),每个半导体芯片包括连接到多条线路的多个内部端子(23-25,28-30)、第一外部端子(22)、以及第二外部端子(27),并且多个内部端子包括与第一外部端子相邻的第一内部端子(23)以及与第二外部端子相邻的第二内部端子(28);中间开关器件(32,34),其连接在多个内部端子之间,从而多条线路和该内部端子相串联;第一末端开关器件(31),其连接在第一内部端子和第一外部端子之间;以及第二末端开关器件(33),其连接在第二内部端子和第二外部端子之间。
地址 日本神奈川