| 主权项 |
1.一种用于测试在自动测试系统中之电子受测单元之设备,其系包含:一个触发滙流排;及复数个通道,其系连接至该触发滙流排,以用于发源及测量于该受测单元之节点处之电子讯号,该些复数个通道之每一个系包含:一个输入端,其用于接收由该受测单元之一个节点而来之一个输入讯号;一个输出端,其系用于提供一个输出讯号至该受测单元之一个节点;至少一个测量电路,其系连接至该输入端;至少一个驱动器电路,其系连接至该输出端;及一个触发电路,其系连接至该输入端,以用于产生触发讯号,以回应于该输入端之预定事件,其中,该至少一个测量电路系建构及配置成操作,以回应由该触发电路而来之该些触发讯号以及由该些复数个通道之其他通道透过该触发滙流排传输而来之触发讯号,且其中,该些复数个通道之不同通道系可建构成于实质上相同之时间下操作,以回应起源于该些复数个通道之任一个而来之触发讯号。2.如申请专利范围第1项之设备,其中,该至少一个驱动器电路系建构及配置成操作,以回应由该触发电路而来之该些触发讯号以及由该些复数个通道之其他通道透过该触发滙流排传输而来之触发讯号。3.如申请专利范围第1项之设备,其中,该至少一个测量电路系包含用于测量该输入讯号之不同特性之不同装置。4.如申请专利范围第1项之设备,其中,该触发电路系连接至一个参考时脉,该参考时脉系用于产生与该参考时脉同步之触发讯号。5.如申请专利范围第4项之设备,其系进一步包含:一个输入同步化电路,其系设置于该输入端及该复数个测量装置之间,以用于取样与该参考时脉同步之该输入讯号。6.如申请专利范围第5项之设备,其系进一步包含:一个控制滙流排,其系用于在该复数个通道及一个主电脑之间传输控制讯号;及一个控制同步电路,其系连接至该控制滙流排,以用于以该参考时脉同步化该主电脑及该些复数个通道之间之控制讯号的传输。7.如申请专利范围第1项之设备,其系进一步包含:一个控制滙流排,其系用于在该复数个通道及一个主电脑之间传输控制讯号;及一个控制同步电路,其系连接至该控制滙流排,以用于以该参考时脉同步化该主电脑及该些复数个通道之间之控制讯号的传输。8.如申请专利范围第7项之设备,其系进一步包含:一个记忆体,该至少一个测量电路及该至少一个驱动器电路系能够写入至该记忆体之内且能够由该记忆体读出。9.如申请专利范围第8项之设备,其中,该记忆体系连接至控制滙流排及控制同步电路,以接收与参考时脉同步化之命令。10.如申请专利范围第7项之设备,其中,每一个通道系包含一个可由该主电脑读取之至少一个状态暂存器。11.如申请专利范围第10项之设备,其中,该状态暂存器系被建构及配置成储存指示下列状态之至少一个之状态资讯:一个等待一个触发之测量电路;一个等待一个触发之驱动器电路;一个实施一项测量之测量电路;及一个产生一个输出讯号之驱动器电路。12.如申请专利范围第1项之设备,其中,该复数个通道之每一个系进一步包含一个开关,其系连接于该输入端及该输出端之间,以用于选择性地连接该输入端至该输出端。13.如申请专利范围第1项之设备,其中,该每个通道之该触发电路系连接至一个控制滙流排,且该触发电路系被建构及配置成产生触发讯号,以回应由一个主电脑而来前于该控制滙流排上传输之命令。14.如申请专利范围第13项之设备,其中,该些触发讯号系为周期性地产生之触发讯号。15.一种用于测试在自动测试系统中之电子受测单元之设备,其系包含:一个触发滙流排;及复数个通道,其系连接至该触发滙流排,以用于测量于该受测单元之节点处之电子讯号,该些复数个通道之每一个系包含:一个输入端,其用于接收由该受测单元之一个节点而来之一个输入讯号;一个输出端,其系用于提供一个输出讯号至该受测单元之一个节点;用于测量该输入讯号之装置;用于发源该输出讯号之装置;及触发装置,其系连接至该输入端,以用于产生触发讯号,以回应于该输入端之预定事件,其中,该用于测量之装置系可操作成回应由该触发装置而来之该些触发讯号以及由该些复数个通道之其他通道透过该触发滙流排传输而来之触发讯号,且其中,该些复数个通道之不同通道系可建构成于实质上相同之时间下操作,以回应起源于该些复数个通道之任一个而来之触发讯号。16.如申请专利范围第15项之设备,其中,该用于发源之装置系可操作于回应由该触发装置而来之该些触发讯号以及由该些复数个通道之其他通道透过该触发滙流排传输而来之触发讯号。17.如申请专利范围第15项之设备,其中,该用于测量之装置系包含用于测量该输入讯号之不同特性之不同装置。18.如申请专利范围第15项之设备,其中,该触发装置系连接至一个参考时脉,该参考时脉系用于产生与该参考时脉同步之触发讯号。19.如申请专利范围第15项之设备,其系进一步包含:一个输入装置,其系用于取样与该参考时脉同步之该输入讯号。20.一种测试于一自动测试系统中之电路的方法,该自动测试系统系包含复数个通道以运用该电路之不同节点,该方法系包含:(A)由该复数个通道之至少一个起源一个个别的输出讯号;(B)取样该复数个通道之至少一个的一个个别输入端;及(C)产生复数个触发讯号,以致动该起源及取样步骤,其中,该复数个触发讯号系由许多事件之任一个所产生,其系包含产生于该个别通道之该输入讯号之个别的预定之事件,且其中,该复数个触发讯号系被传送至该些通道之每一个,以同时于该复数个通道之不同通道中致动起源及取样行动。21.如申请专利范围第20项之方法,其系进一步包含:(D)测量于步骤B中接收到之每一个输入讯号之复数个类比特性,以回应于步骤C中产生之该些触发讯号。22.如申请专利范围第20项之方法,其中,该许多事件系进一步包含产生于除了该个别通道之外之复数个通道之一之该输入讯号上之一个预定之事件。23.如申请专利范围第20项之方法,其中,该许多事件系进一步包含一个由一个主电脑所发出之触发命令。24.如申请专利范围第23项之方法,其系进一步包含一个由该主电脑发出个别重复的触发命令之步骤,以产生周期性的触发事件。25.如申请专利范围第20项之方法,其系进一步包含:起始一个起源及取样步骤之一,以回应由该复数个通道之一所产生之触发讯号;及停止该起源及取样步骤之一,以回应由该复数个通道之另一个通道所产生之触发讯号。图式简单说明:图1为传统测试系统架构的方块图;图2A为根据本发明之测试设备架构的整体方块图;图2B为图2A显示之测试设备架构中的通道架构方块图;图3为基于图2B显示之通道架构的架构举例图;图4为根据本发明之测试方法的流程图;图5为根据本发明之另一个测试方法的流程图。 |
