发明名称 显示板之检查方法及装置
摘要 一种显示板之检查方法及装置,其目的在于不须使用复杂构造之偏光滤镜或驱动机构即可检测出显示板之缺陷。该检查方法系包含采用:从显示板朝向光检测手段之第1光所形成之第1画像信号;以及相对于显示板所导致之偏光角度使第1光通过具有90°不同之偏光角度之偏光滤镜之第2光所形成之第2画像信号而获得显示板之真实的缺陷资讯。本案代表图:第1图10检查装置 12显示板14夹座顶部 16检查台18探测单元 20光检测器22偏光滤镜 24驱动机构26画像处理装置 28遮蔽箱体30接触子32探测块34开口 36基板
申请公布号 TW571079 申请公布日期 2004.01.11
申请号 TW091137619 申请日期 2002.12.27
申请人 麦克隆尼股份有限公司 发明人 安斋正行
分类号 G01M11/00;G02F1/133;G01N21/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路八十号六楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路八十号六楼
主权项 1.一种显示板之检查方法,其中包含:采用由显示板 朝向光检测手段之第1光所形成之第1画像信号;以 及相对于前述显示板所形成之偏光角度,将前述第 1光予以通过具有90不同之偏光角度之偏光滤镜的 第2光所形成之第2画像信号,而获得前述显示板之 真实的缺陷资讯者。2.如申请专利范围第1项之检 查方法,其中,系实施上述第1及第2画像信号之减除 处理而获得前述真实的缺陷资讯。3.如申请专利 范围第1项之检查方法,其中,前述显示板系包含液 晶元件层。4.如申请专利范围第1项之检查方法,其 中,前述显示板,系包括不含液晶元件之玻璃基板; 以及相对向于该玻璃基板之偏光板。5.如申请专 利范围第1至第4项中任一项之检查方法,其中,更包 括:当获得前述第1画像信号时使前述偏光滤镜置 换成前述第1透过光之光路外之位置,当获得前述 第2画像信号时使前述偏光滤镜置换成遮断前述第 1透过光之光路之位置。6.一种显示板之检查装置, 系包含:采用应检查之显示板之夹座顶部; 备有通电至前述显示板之复数个探针之探测单元; 将来自前述显示板之光检测出作为电气信号之光 检测手段; 相对于前述显示板所形成之偏光角度具有90不同 偏光角度,并配置成可在从前述显示板朝向前述光 检测手段之光之通路中进出之偏光滤镜;以及 使用来自前述显示板之光之中不透过前述偏光滤 镜之第1光所形成之第1画像信号,与透过前述偏光 滤镜之第2光所形成之第2画像信号,而获得前述显 示板之真实的缺陷资讯之画像处理装置。7.如申 请专利范围第6项之检查装置,其中,更包括:使前述 偏光滤镜选择性地在不位于前述第1光之通路上的 第1位置;以及位于该通路上的第2位置间置换之置 换机构。8.如申请专利范围第6或第7项之检查装置 ,其中,前述夹座顶部,具备有对所接受之显示板予 以照射光之背光装置。图式简单说明: 第1图系显示本发明之检查装置之一实施例图。 第2图系光之偏光状态之说明图。 第3图系光之偏光状态之另一说明图。 第4图系光之偏光状态之又一说明图。
地址 日本