发明名称 |
Nichtflüchtige Speicherzelle mit Ladungseinfangstruktur, Speicherbauelement und Herstellungsverfahren |
摘要 |
Die Erfindung bezieht sich auf eine nichtflüchtige Speicherzelle mit einem Substrat (60), in dem ein Source-Bereich (70), ein Drain-Bereich (50) und ein zwischen liegender Kanalbereich ausgebildet sind, einer Einfangstruktur, die eine Tunnelschicht (10), eine Ladungseinfangschicht (20) und eine Sperrschicht (30) umfasst, und mit einem Gate (40) sowie auf ein entsprechendes Speicherbauelement und ein zugehöriges Herstellungsverfahren. DOLLAR A Erfindungsgemäß ist die Einfangstruktur (10, 20, 30) nur auf einem ersten Teilabschnitt des Substratgebiets zwischen Source- und Drain-Bereich (70, 50) ausgebildet, der sich vom Source- und/oder Drain-Bereich in Richtung Kanalgebiet erstreckt, und die Gateisolationsschicht (90) ist auf einem zweiten Teilabschnitt des Substratgebiets zwischen Source- und Drainbereich angeordnet, der sich neben dem ersten Teilabschnitt erstreckt. DOLLAR A Verwendung z. B. für nichtflüchtige Halbleiterspeicherbauelemente mit SONOS-Gatestruktur.
|
申请公布号 |
DE10245769(A1) |
申请公布日期 |
2004.01.08 |
申请号 |
DE20021045769 |
申请日期 |
2002.09.25 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
KANG, SUNG-TAEG;HAN, JUNG-WOOK;KIM, SEONG-GYUN;YOO, HYUN-KHE |
分类号 |
H01L21/8247;G11C16/04;H01L21/28;H01L21/336;H01L21/8238;H01L21/8239;H01L27/105;H01L27/115;H01L29/51;H01L29/788;H01L29/792;(IPC1-7):H01L27/115;H01L21/824 |
主分类号 |
H01L21/8247 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|