| 摘要 |
本发明系揭示一种用以校正维特比侦测器138之参数的装置及方法，其中每一分支度量系根据与对应该分支之信号假设相关之杂讯统计加以计算。计算资料相关杂讯预测滤波器304A–D之参数之离线算法予以揭示，其具有二阶段：一杂讯统计评估或训练阶段，及一滤波器计算阶段。在训练阶段期间，杂讯抽样之产品对系被累积以便评估杂讯关联。此外，训练阶段之结果用以评估杂讯关联累积暂存器之宽度（位元）应为若干。每一FIR滤波器之抽头﹝t2〔k〕，t1〔k〕，t0〔k〕﹞系根据由C〔k〕ij＝E（ni–3nj–3︳NZR条件k）所定义之3x3条件杂讯关联矩阵C^〔k〕之项目之评估加以计算。 |
