| 主权项 |
1.一种多模组系统安装测试方法,用以测试并显示一多模组系统的各模组是否正确安装,包括下列步骤:设置测试电路:提供复数个测试电路,连接于该多模组系统的各模组,用以判别各模组是否正确安装并输出一模组测试结果讯号;显示测试结果:提供复数个显示装置,连接于该测试单元,依据该模组测试结果讯号而显示各模组是否正确安装;逻辑运算:以各测试单元之该模组测试结果讯号为输入,经由或(OR)逻辑运算,而产生一电源控制讯号;以及控制电源开关:依据该电源控制讯号而控制电源开关是否可开启。2.如申请专利范围第1项所述之多模组系统安装测试方法,设置测试电路步骤之该测试电路包含:一电压源,用以提供一固定电压;以及一n通道场效电晶体,其源极(source)连接于该电压源,其吸极(drain)接地,其闸极(gate)连接于一测试模组。3.如申请专利范围第2项所述之多模组系统安装测试方法,设置测试电路步骤之该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该n通道场效电晶体之闸极,另一端接地,分压点连接于该测试模组。4.如申请专利范围第2项所述之多模组系统安装测试方法,设置测试电路步骤之该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该测试模组,另一端接地,分压点连接于该n通道场效电晶体之闸极。5.如申请专利范围第1项所述之多模组系统安装测试方法,设置测试电路步骤之该测试电路包含:一电压源,用以提供一固定电压;以及一npn双极接面电晶体,其射极(emitter)接地,其集极(collector)连接于该电压源,其基极(base)连接于一测试模组。6.如申请专利范围第5项所述之多模组系统安装测试方法,设置测试电路步骤之该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该npn双极接面电晶体之基极,另一端接地,分压点连接于该测试模组。7.如申请专利范围第5项所述之多模组系统安装测试方法,设置测试电路步骤之该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该测试模组,另一端接地,分压点连接于该npn双极接面电晶体之基极。8.如申请专利范围第1项所述之多模组系统安装测试方法,显示测试结果步骤之该显示装置为一发光二极体(LED)。9.一种多模组系统安装测试装置,用以测试及显示一多模组系统的各模组是否正确安装,并决定该多模组系统的总电源开关得否开启,包含:复数个测试单元,设置于该多模组系统的各模组,每一测试单元包含一测试电路与一显示装置,该测试电路用以测试各模组是否正确安装并输出一模组测试结果讯号,该显示装置连接于该测试电路,依据该模组测试结果讯号而显示各模组是否正确安装;以及一或逻辑闸,连接于前述测试单元,以该测试单元之该模组测试结果讯号为输入,经由或(OR)逻辑运算,用以产生一总电源控制讯号。10.如申请专利范围第9项所述之多模组系统安装测试装置,该测试电路包含:一电压源,用以提供一固定电压;以及一n通道场效电晶体,其源极(source)连接于该电压源,其吸极(drain)接地,其闸极(gate)连接于一测试模组。11.如申请专利范围第10项所述之多模组系统安装测试装置,该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该n通道场效电晶体之闸极,另一端接地,分压点连接于该测试模组。12.如申请专利范围第10项所述之多模组系统安装测试装置,该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该测试模组,另一端接地,分压点连接于该n通道场效电晶体之闸极。13.如申请专利范围第9项所述之多模组系统安装测试装置,该测试电路包含:一电压源,用以提供一固定电压;以及一npn双极接面电晶体,其射极(emitter)接地,其集极(collector)连接于该电压源,其基极(base)连接于一测试模组。14.如申请专利范围第13项所述之多模组系统安装测试装置,该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该npn双极接面电晶体之基极,另一端接地,分压点连接于该测试模组。15.如申请专利范围第13项所述之多模组系统安装测试装置,设置测试电路步骤之该测试电路更包含:一分压电路,其一端连接于该测试模组,另一端接地,分压点连接于该npn双极接面电晶体之基极。16.如申请专利范围第9项所述之多模组系统安装测试装置,该显示装置为一发光二极体(LED)。图式简单说明:第1图为多模组系统安装测试方法之流程图。第2图为多模组系统安装测试之流程图。第3图为多模组系统安装测试装置之电路图。 |
