| 主权项 |
1.一种天线测试系统,用来测试一待测天线的复数个天线特性,该天线测试系统至少包括:一转盘元件,其中该转盘元件系与该待测天线同步转动,而该转盘元件的一表面上安装有复数个角度标识,该些角度标识系以等分该转盘元件之一圆周的方式,分布于该转盘元件的该圆周上,藉以表示该待测天线转动的角度方向;以及一角度读取装置,安装于对应该转盘元件之该圆周的一位置,藉以读取每一该些角度标识所代表的一角度读数。2.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,其中该天线测试系统系应用于该待测天线的远场测试(Far Field Test)。3.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,其中每一该些角度标识系分别由复数个明暗条纹所组成。4.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,其中该些角度标识的数目为360个,且二个相邻之该些角度标识的间隔为1度。5.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,其中该角度读取装置系一反射式侦测装置。6.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,其中该角度读取装置系一穿透式侦测装置。7.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,更至少包括:一读数处理装置,电性连接至该角度读取装置,藉以处理或显示该角度读数。8.如申请专利范围第7项所述之天线测试系统,其中该角度读数系经一计数装置计算而得。9.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,更至少包括:一支撑元件,其中该支撑元件的一端系与该转盘元件相连接,且该待测天线被置于该支撑元件的另一端上。10.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,其中该转盘元件更具有一贯穿孔。11.如申请专利范围第1项所述之天线测试系统,其中该些天线特性至少包括:一有效辐射功率(Effective Isotropic Radiated Power;EIRP)、一辐射场型(Radiation Pattern)、以及一天线增益(AntennaGain)。12.一种天线测试系统,用来测试一待测天线的复数个天线特性,该天线测试系统至少包括:一转盘元件,其中该转盘元件系与该待测天线同步转动,而该转盘元件的一表面上安装有复数个角度标识,该些角度标识系以等分该转盘元件之一圆周的方式,分布于该转盘元件的该圆周上,藉以表示该待测天线转动的角度方向;一角度读取装置,安装于对应该转盘元件之该圆周的一位置,藉以读取每一该些角度标识所代表的一角度读数;一讯号产生器(Signal Generator),电性连接至该待测天线,藉以产生一测试讯号;一标准天线,藉以接收该测试讯号;以及一波谱分析仪(Spectrum Analyzer),电性连接至该标准天线,藉以分析该测试讯号。13.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,其中该天线测试系统系应用于该待测天线的边场测试。14.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,其中每一该些角度标识系分别由复数个明暗条纹所组成。15.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,其中该些角度标识的数目为360个,且二个相邻之该些角度标识的间隔为1度。16.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,其中该角度读取装置系一反射式侦测装置。17.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,其中该角度读取装置系一穿透式侦测装置。18.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,更至少包括:一读数处理装置,电性连接至该角度读取装置,藉以处理或显示该角度读数。19.如申请专利范围第18项所述之天线测试系统,其中该角度读数系经一计数装置计算而得。20.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,更至少包括:一支撑元件,其中该支撑元件的一端系与该转盘元件相连接,且该待测天线被置于该支撑元件的另一端上。21.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,其中该转盘元件具有一贯穿孔,藉以通过电性连接该待测天线和该讯号产生器的导线。22.如申请专利范围第12项所述之天线测试系统,其中该些天线特性至少包括:一有效辐射功率、一辐射场型、以及一天线增益。图式简单说明:第1图为绘示本发明之天线测试系统的结构示意图;以及第2图为绘示本发明之一实施例之转盘元件的上视示意图。 |
