测试电路板之设备与方法及用于该设备与该方法之测试探针

摘要

本发明有关于一种用以测试电路板的设备与方法，以及用于此方法与设备之测试探棒。依据本发明，指式测试器的测试指的接触尖端于测试处理时，藉由光学检测装置加以监视，以及，至少当探讨一予以测试电路板的电路板测试点的一部份时，其动作系基于由光学检测装置所决定之结果加以校正，使得接触尖端与有关电路板测试点完成可靠之接触。藉以所取得之校正资料可以用于校准资料的计算。