发明名称 | 半导体试验装置的校准方法 | ||
摘要 | 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。 | ||
申请公布号 | CN1464980A | 申请公布日期 | 2003.12.31 |
申请号 | CN02802588.1 | 申请日期 | 2002.06.06 |
申请人 | 株式会社艾德温特斯特 | 发明人 | 谢羽彻 |
分类号 | G01R31/319 | 主分类号 | G01R31/319 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 刘宗杰;梁永 |
主权项 | 1.一种半导体试验装置的校准方法,在该方法中进行具备进行与时钟信号同步的信号的生成工作的驱动器和进行与选通信号同步的比较工作的比较器的半导体试验装置的时序校准,其特征在于,具有下述步骤:第1步骤,在多个上述驱动器的每一个与多个上述比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,对于彼此以1对1的方式对应的上述时钟信号和上述选通信号,以某一方为基准调整另一方的相位;第2步骤,取得分别与多个上述驱动器对应的上述时钟信号相互间的相对的相位差或分别与多个上述比较器对应的上述选通信号相互间的相对的相位差;以及第3步骤,根据上述相对的相位差调整多个上述时钟信号和多个上述选通信号的相位。 | ||
地址 | 日本东京都 |