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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur von Nichtlinearitäten eines elektrischen Ausgangssignals (18) eines elektrischen Bauelements (11), insbesondere eines Messumformers, mittels eines in einem Kennfeldspeicher (2) abgelegten Kennfeldes (13), das mittels diskreter Stützstellen definiert ist. In Abhängigkeit von mindestens einem die Nichtlinearitäten des Ausgangssignals (18) beeinflussenden analogen Signal (x_i) werden die benachbarten Stützstellen des Kennfeldes (13) ermittelt und wird zur Ermittlung eines Ausgangssignals des Kennfeldes (13) zwischen diesen Stützstellen interpoliert. Das oder jedes Signal (x_i) wird zur Adressierung des Kennfeldes (13) mittels eines Delta-Sigma-Modulators (1) A/D-gewandelt. Um bei der nichtlinearen Korrektur mittels eines Kennfeldes (13) eine Interpolation zwischen Stützstellen des Kennfeldes (13) einfacher, kostengünstiger und robuster gestalten zu können, wird vorgeschlagen, dass das oder jedes Signal (x-i) mittels des Delta-Sigma-Modulators (1) überabgetastet wird, wobei ein Quantisierungsrauschen in dem oder jedem Signal (x_i) mittels des Delta-Sigma-Modulators (1) aus einem Signalfrequenzbereich zu höheren Frequenzen hin verschoben wird und der das Kennfeld (13) enthaltende Kennfeldspeicher (2) mittels eines Ausgangssignals des Delta-Sigma-Modulators (1) adressiert wird. Ein Rauschen des oder jeden Signals (x_i) aufgrund des Quantisierungsrauschens wird zur Interpolation zwischen den Stützstellen des Kennfeldes (13) ...
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