Auf-Chip-Ladungsverteilungsmessungs-Schaltung

摘要

Ein Verfahren und eine Schaltung zum Messen einer Ladungsverteilung für ein Auslesen von FeRAM-Zellen ist für eine Auf-Chip-Defekterfassung und eine Parametereinstellung schnell genug. Ein Erfassungsverstärker des Komparatortyps und ein Referenzspannungsgenerator messen eine Bitleitungsladung oder -spannung unter Verwendung eines Auslesens der Ladung von einer FeRAM-Zelle und Vergleichen der resultierenden Bitleitungsspannung mit einer Reihe von Referenzspannungen. Eine Reihe von Ergebnissignalen von dem Erfassungsverstärker zeigt an, wenn die Bitleitungsspannung näherungsweise gleich der Referenzspannung ist. Die Ergebnissignale können für eine Analyse ausgegeben werden und/oder intern für eine Defekterfassung oder Einstellung von Betriebsparametern, wie z. B. einer Referenz, die während der Leseoperationen verwendet wird, verwendet werden.