| 发明名称 |
MEASUREMENT SYSTEM FOR INDIRECTLY MEASURING DEFECTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IL156074(D0) |
申请公布日期 |
2003.12.23 |
| 申请号 |
IL20030156074 |
申请日期 |
2003.05.22 |
| 申请人 |
ISRAEL AIRCRAFT INDUSTRIES LIMITED |
发明人 |
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| 分类号 |
A61B1/07;A61B5/107;G02B23/24;(IPC1-7):G01N |
主分类号 |
A61B1/07 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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