| 主权项 |
1.一种利用侦测磁通量(Magnetic Flux)校正一第一元件与一第二元件之相对应相位之方法,其包含:相对应的设置该第一元件与该第二元件;提供一磁通产生装置,用来提供磁通于该第一元件与该第二元件间;提供一磁感测装置,用来感应该第一元件与该第二元件间之磁通量;相对应的调整该第一元件与该第二元件,使得该磁感测装置侦测之磁通量达一预定値。2.如专利申请范围第1项所述之方法,其中该磁通产生装置为一磁铁。3.如专利申请范围第1项所述之方法,其中该磁感测装置为一霍尔元件(Hall Element),其会将磁通量转换为相对应之电压讯号。4.如专利申请范围第3项所述之方法,其另包含有提供一放大电路,用来将输出自该霍尔元件的电压讯号放大以利于进行判断。5.如专利申请范围第1项所述之方法,其中该磁感测装置为一磁阻元件(MR Device),其会依磁通量之大小而改变其电阻値。6.如专利申请范围第1项所述之方法,其中该磁感测装置为一磁二极体(Magnetic Diode),其会依磁通量之大小而改变其通过之电流値。7.如专利申请范围第1项所述之方法,其中该第一元件系一螺丝起子(Screw Driver),该第二元件系一螺丝。8.如专利申请范围第7项所述之方法,其中该螺丝系安装于一金属板上。9.如专利申请范围第8项所述之方法,其中该磁通产生装置系设于该金属板上,该磁感测装置系设于该螺丝起子之一端。10.如专利申请范围第1项所述之方法,其中该磁通产生装置系设于该第二元件之一端,该磁感测装置系设于该第一元件之一端。11.如专利申请范围第1项所述之方法,其中该磁通产生装置系设于该第一元件之一端,该磁感测装置系设于该第二元件之一端。图式简单说明:图一为本发明之校正相位之方法的示意图。图二为图一中之二元件的相对应距离及相位与该磁感测装量所感应的磁通量之相对关系的示意图。图三为图一中之校正相位之方法应用于螺丝及螺丝起子相位校正的示意图。图四为图三中之螺丝起子之内部构造的示意图。图五为图四中之霍尔元件的示意图。图六为用来将图四中之霍尔元件之电压讯号放大的放大电路之功能方块图。图七为图三中之螺丝及螺丝起子顶端未齿合时之示意图。图八为图三中之螺丝及螺丝起子顶端齿合时之示意图。 |
