发明名称 Schaltzustand-Bestimmungsvorrichtung und Verfahren zum Bestimmen des Schaltzustandes
摘要 Es wird eine Sampling-Spannung (Vs) periodisch zwischen Kontakten eines Schalters (SW1-SWn) einer Vorrichtung angelegt, um den Zustand des Schalters (SW1-SWn) zu bestimmen. Wenn sich eine CPU (32) in einem Schlafzustand befindet und der Zustand des Schalters (SW1-SWn) als geschlossen bestimmt wird, wird die CPU (32) aktiviert. Die Sampling-Spannung (Vs) wird dann, wenn sich die CPU (32) in dem Schlafzustand befindet, niedriger eingestellt als eine Spannung, wenn sich die CPU (32) in einem aufgeweckten Zustand befindet. Dadurch wird der Energieverbrauch für die Schalterzustandsbestimmung reduziert. Die Sampling-Spannung (Vs), die auf einen niedrigen Pegel eingestellt ist, wird periodisch auf einen höheren Pegel eingestellt, um Fehler bei der Bestimmung aufgrund von Isolierfilmen an den Kontakten zu reduzieren.
申请公布号 DE10325010(A1) 申请公布日期 2003.12.18
申请号 DE20031025010 申请日期 2003.06.03
申请人 DENSO CORP., KARIYA 发明人 NAKAZAWA, ATSUSHI;TAKAGI, NOBUTOMO
分类号 H01H9/00;G05B9/02;H01H9/16;(IPC1-7):H01H9/54;G01R31/327 主分类号 H01H9/00
代理机构 代理人
主权项
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