发明名称 硅基单面加工悬浮结构微机械电感的制作方法
摘要 本发明属于半导体器件及集成电路制作技术领域,包括:备片、清洗:热氧化;淀积氮化硅阻挡层;第一次光刻,刻蚀氮化硅阻挡层;刻蚀二氧化硅;阳极氧化,形成多孔硅;去除二氧化硅、氮化硅;淀积二氧化硅支撑膜;致密;在硅片上溅射铝;第二次光刻,腐蚀铝,形成下层铝线;淀积氮化硅绝缘层;第三次光刻,刻蚀氮化硅绝缘层;在绝缘膜上溅射铝,作为上层金属;第四次光刻,腐蚀铝,形成上层铝线;合金;第五次光刻,形成释放孔;释放多孔硅;清洗、烘干。本方法不仅可以制作出悬浮结构MEMS电感,而且可以制作采用类似悬浮结构的滤波器、振荡器等,同时,完全的CMOS兼容工艺可以大大提高系统的集成度,降低系统成本,可望得到广泛应用。
申请公布号 CN1131557C 申请公布日期 2003.12.17
申请号 CN01130793.5 申请日期 2001.08.24
申请人 清华大学 发明人 刘泽文;丁勇;刘理天;李志坚
分类号 H01L21/70;H01F41/00 主分类号 H01L21/70
代理机构 北京清亦华专利事务所 代理人 廖元秋
主权项 1、一种硅基单面加工悬浮结构微机械电感的制作方法,包括以下步骤: 1)备片、清洗:以厚度为400-600μm、单面抛光的硅片作为衬底,采用硫酸+双 氧水煮沸的方法进行清洗后去离子水漂洗并烘干; 2)热氧化:将准备好的硅片放入氧化炉中,在1000-1100℃下与纯氧气反应,在 硅片的抛光面生成45-55nm的二氧化硅作为去应力层; 3)淀积氮化硅阻挡层:采用化学气相淀积的方法,在硅片正面形成厚度为180- 220nm的氮化硅,作为后续工艺“阳极氧化”的阻挡层; 4)第一次光刻,刻蚀氮化硅阻挡层:对已淀积了氮化硅的硅片进行光刻,暴露 出需要去除的氮化硅区域,然后进行刻蚀,去除待阳极氧化区域的氮化硅,露出下面 的二氧化硅层; 5)刻蚀二氧化硅:将暴露的二氧化硅去除,露出硅衬底,然后将光刻胶去除; 6)阳极氧化,形成多孔硅:在15~25%的氢氟酸溶液中进行阳极氧化,氧化的电 流密度为40±5mA/cm<sup>2</sup>,在暴露的硅片正面生成厚度为15-30μm的多孔硅; 7)去除二氧化硅、氮化硅:将生成好多孔硅的硅片置于8%~10%的氢氟酸溶液中 常温浸泡2~3小时,彻底除去硅片表面的二氧化硅和氮化硅,以提高后续工艺中薄膜 与硅衬底的接触,提高器件的整体质量; 8)淀积二氧化硅:在硅片正面淀积厚度为500±50nm的二氧化硅,作为悬浮结构 的支撑薄膜; 9)致密:将淀积了二氧化硅薄膜后的硅片在氧气中加热至900~1000℃,保持20~ 30分钟,进行致密,以改善二氧化硅薄膜的力学性能,提高薄膜的质量; 10)在硅片上溅射铝:根据电学设计参数的要求,在硅片上溅射厚度为400~600nm 的铝,作为下层金属; 11)第二次光刻,腐蚀铝,形成下层铝线:首先在铝表面形成一定的起保护作用 的光刻胶图形,然后进行腐蚀,形成满足设计要求的下层铝线图形,腐蚀完毕后将光 刻胶去除; 12)淀积氮化硅绝缘层:采用等离子体化学气相淀积的方法,在硅片正面淀积 300nm±50nm的氮化硅,作为两层金属之间的绝缘层; 13)第三次光刻,刻蚀氮化硅绝缘层:在氮化硅绝缘层上刻蚀出两层金属间的接 触孔,以便进行两层金属的互联; 14)在绝缘层上溅射铝,作为上层金属:根据电路设计参数的要求,溅射厚度为 1~5μm的铝; 15)第四次光刻,腐蚀铝,形成上层铝线:采用与第11步工艺相同的光刻、腐 蚀、去胶工艺,对铝进行腐蚀,形成满足设计要求的上层铝线图形; 16)合金:将形成了双层金属的硅片置于400~500℃环境中,同时通入保护气 体,加热25±5分钟,进行合金,以改善两层金属铝的接触,减小接触电阻,提高电感 性能; 17)第五次光刻,形成释放孔:采用采用与第4、第5步相同的光刻及刻蚀工艺, 形成一些腐蚀孔,暴露出多孔硅,以便进行多孔硅的释放,最后将光刻胶去除; 18)释放多孔硅:将硅片置于掺入硅粉和过硫酸铵的四甲基氢氧化铵溶液中,在 水浴中加热15~30分钟,进行多孔硅的释放,形成悬浮结构; 19)清洗、烘干:将制作好的硅片用大量去离子水浸泡、清洗后置于不高于100℃ 烘箱中烘干。
地址 100084北京市海淀区清华园
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