| 发明名称 | 元件测试装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种元件测试装置，根据本实用新型，由在测试板方面的特殊设计，可以在更换测试板之后，略过在进行元件测试前需要长时间的校正步骤，因此，根据本实用新型的设计可以有效地提升待测元件的元件测试效率，更好的是，根据本实用新型的设计可以省下用来记录的纸张，以达到环保的目的。 | ||
| 申请公布号 | CN2593207Y | 申请公布日期 | 2003.12.17 |
| 申请号 | CN02294472.9 | 申请日期 | 2002.12.30 |
| 申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 余玉龙;倪云鹏 |
| 分类号 | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 | 主分类号 | G01R31/26 |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 陈肖梅;文琦 |
| 主权项 | 1.一种元件测试装置，其特征在于，该元件测试装置包含：一自动测试设备(ATE)；一接口板设置于该自动测试设备上；一测试板设置于该接口板上，其中该测试板与该测试设备电性耦合；一存储元件位于该测试板上，其中该存储元件与该测试设备电性耦合；及一插槽位于该测试板上，其中该插槽用以容置一待测元件。 | ||
| 地址 | 台湾省台北县新店市中正路533号8楼 | ||