首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 A MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR SCAN-BASED INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP1370880(A1) 申请公布日期 2003.12.17
申请号 EP20020719125 申请日期 2002.03.22
申请人 SYNTEST TECHNOLOGIES, INC. 发明人 WANG, LAUNG-TERNG;KAO, SHIH-CHIA;LIN, MENG-CHYI;WANG, HSIN-PO;WEN, XIAOQING;HSU, CHI-CHAN;HSU, FEI-SHENG
分类号 G01R31/317;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com