| 主权项 |
1.一种用以分析积体电路晶片中功率分配之方法,包含:将该积体电路晶片之时脉周期分为复数个时间周期;将该积体电路晶片分为复数个单元;为复数个单元实施一静态时脉分析以获得各单元及各时间周期之电流波形资料;利用该电流波形资料实施一功率分配分析。2.如申请专利范围第1项之方法,进一步包含:产生一含单元特性资料之预特性单元程序库,及利用该单元特性资料实施静态时脉分析。3.如申请专利范围第2项之方法,其中该单元特性资料含电荷资料、时序资料、电压资料、温度资料、负载资料、输入转换率资料、直电流资料及处理角资料。4.如申请专利范围第1项之方法,进一步包含:利用该预特性单元程序库物理设计该积体电路晶片。5.如申请专利范围第1项之方法,进一步包含:摘取寄生电阻器、电容器及电感器以产生摘取之信贺网资讯,用其实施该静态时脉分析。6.如申请专利范围第4项之方法,其中由执行该方法产生之电流波形资料用以在下一次该方法执行时,物理设计该积体电路晶片。7.如申请专利范围第1项之方法,其中该静态时脉分析决定积体电路晶片上何时需要电流,需要若干电流于积体电路晶片上,及积体电路晶片上何处需要电流。8.如申请专利范围第1项之方法,其中该积体电路晶片上各电路均在一固定时脉周期切换。9.如申请专利范围第1项之方法,其中该静态时脉分析包含:不处理电路,其不能在同一时脉周期切换。10.如申请专利范围第1项之方法,其中该各时间周期大于或等于升起或下降时间,该时间可捕捉积体电路晶片上信号之95%。11.如申请专利范围第1项之方法,其中该静态时脉分析包含:在至少一时间周期指定电路使用之一电荷;及为各时间周期计算节点电压。12.如申请专利范围第11项之方法,其中该静态时脉分析进一步包含:以允许之限制检查计算之节点电压;利用该计算之节点电压计算电流密度;及以电移与本地加热规则检查该计算之节点电压。13.如申请专利范围第11项之方法,其中在该静态时分析运行期间计算之节点电压,在该静态时脉分析之下一次运行中为返回注解用以再计算节点电压。14.如申请专利范围第1项之方法,其中该功率分配分析之实施包括产生一功率分配之图形。15.一种用以在积体电路晶片中分析功率分配之系统,包含:一晶片设计装置,利用预定特性单元资料,以物理及逻辑方式设计该体电路晶片;一功率栅摘取装置,用以自晶片设计装置输入物理设计及产生摘取之信号网资讯;及一静态时脉分析工具,用以输入该摘取之信号网资讯及物理设计资料,以产生电流波形资料。16.如申请专利范围第15项之系统,进一步包含:一功率分配分析工具,用以输入该电流波形及产生功率分配资料。17.如申请专利范围第6项之方法,其中该方法系利用一数位资料处理装置实施。18.一种实施一机器可读指令程式之可程式化储存媒体,该指令可由数位处理装置执行,以在积体电路晶片中实施功率分配方法,该方法含:将该积体电路晶片之时脉周期分为复数个时间周期;将该积体电路晶片分为复数个单元;为复数个单元实施静态时脉分析,以获得各单元及各时间周期之电流波形资料;利用该电流波形资料实施功率分配分析。19.如申请专利范围第15项之系统,其中该预特性单元资料系包含于预特性单元程序库中。20.如申请专利范围第15项之系统,其中该预定特性单元资料包含电荷资料、时序资料、电压资料、温度资料、负载资料、输入转换率资料、直流电流及处理角资料。21.如申请专利范围第15项之系统,其中该功率栅摘取装置自该积体电路晶片之物理设计摘取电阻器,电容器及电感器以产生摘取之信号网资讯。22.如申请专利范围第15项之系统,其中该在系统操作期间产生之电形资料,在该系统之下一次操作期间输入该晶片设计装置,以改善该积体电路晶片之物理设计。23.如申请专利范围第15项之系统,其中该静态时脉分析工具决定积体电路晶片上何时需要电流,及积体电路晶片上需要电流之数量,及积体电路晶片上何处需要电流。24.如申请专利范围第15项之系统,其中积体电路晶片上之各电路均在一固定时脉周期切换。25.如申请专利范围第15项之系统,其中该静态时脉分析工具不理同一时间周期不能切换之电路。26.如申请专利范围第15项之系统,其中该静态时脉分析工具将该积体电路晶片之时脉周期分为复数个时间周期,其中各时间周期大于或等于升起或下降时间,该时间可捕捉该积体电路晶片上信号之95%。27.如申请专利范围第15项之系统,其中该静态时脉分析工具指定电路所用之电荷至少一时间周期,及计算各时间周期之节点电压。28.如申请专利范围第27项之系统,其中该静态时脉分析工具以可允许之限制检查计算之节点电压、电移规则及本地加热规则,及利用计算之节点电压计算电流密度。29.如申请专利范围第28项之系统,其中该静态时脉分析期间计算之节点电压,在下一次静态时脉分析返回注解于静态时脉分析工具中,以再计算节点电压。30.如申请专利范围第16项之系统,其中该功率分配分析工具产生一积体电路晶片上功率分配之图形。31.如申请专利范围第18项之可程式储存媒体,其中该方法进一步包含:产生一预特性单元程序库,及利用该单元特性资料实施静态时脉分析。32.如申请专利范围第31项之可程式储存媒体,其中该单元特性资料包括电荷资料、时序资料、电压资料、温度资料、负载资料、输入转换率资料、直流电流资料及处理角资料。33.如申请专利范围第31项之可程式储存媒体,其中该方法进一步含:利用预特性单元程序库物理设计该积体电路晶片。34.如申请专利范围第18项之可程式储存媒体,其中该方法进一步包含:摘取电阻器、电容器及电感器以产生摘取之信号网资讯,用以实施该静态时脉分析。35.如申请专利范围第33项之可程式储存媒体,其中由执行该方法产生之电流波形用来在该方法之下一次执行时,物理设计该积体电路晶片。36.如申请专利范围第18项之可程式储存媒体,其中该静态时脉分析包含:不理会无法在同一时脉周期切换之电路。37.如申请专利范围第18项之可程式储存媒体,其中该静态时脉分析包含:指定电路使用之电荷至至少一时间周期;及计算各时间周期之节点电压。38.如申请专利范围第18项之可程式储存媒体,其中该静态时脉分析包含:以可允许限制检查计算之节点电压;利用计算之节点电压计算电流密度;及以电移及本地加热规则检查计算之节点电压。39.如申请专利范围第38项之可程式储存媒体,其中该静态时脉分析运行期间计算之节点电压在静态时脉分析之下一次运行中为返回注解,以再计算节点电压。40.如申请专利范围第18项之可程式储存媒体,其中该功率分配分析之实施包含产生积体电路晶片上功率分配之图形。图式简单说明:图1为一典型积体电路晶片一部分中之电流之图形代表;图2为一流程图说明本发明分析功率分配之方法;图3为一流程图说明本发明实施静态时脉分析之方法;图4说明并入本发明于其中之范例硬体/资讯处理系统400;图5说明一细号载负媒体500(储存媒体)以储存本发明方法之程式之步骤;及图6说明一系统以根据本发明分析功率分配。 |
