发明名称 Elektrische Schaltungsanordnung sowie Verfahren zur Überprüfung der Intaktheit eines Photodiodenarrays
摘要 Die Erfindung betrifft eine elektrische Schaltungsanordnung sowie ein Verfahren zur Überprüfung der Intaktheit eines Photodiodenarrays sowie einer Leitungsverbindung zwischen dem Photodiodenarray und einem räumlich von diesem abgesetzten, zur Auswertung des Ausgangssignals desselben vorgesehenen Mikroprozessors, wobei der Ausgang des Photodiodenarrays im inaktiven, intakten Zustand hochohmig ist und im Fehlerfall über jeweils einen festgelegten Innenwiderstand mit Masse- oder Versorgungsspannungspotential verbunden ist. DOLLAR A Gegenüber dem Stand der Technik, der zwar die Möglichkeit bietet, über den Status des Ausgangssignals eine direkte Diagnose des Photodiodenarrays selbst vorzunehmen, haben die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung sowie das zugehörige Verfahren den Vorteil, jederzeit auch eine Aussage über den Zustand der Leitung und bei intakter Leitung zusätzlich über die Intaktheit des Photodiodenarrays zu ermöglichen. DOLLAR A Dies gelingt erfindungsgemäß dadurch, dass der Ausgang des Photodiodenarrays über einen in räumlicher Nähe zu diesem angeordneten, ersten Prüfwiderstand mit Massepotential verbunden ist, und dass der zum Signal-Empfang vorgesehene Analog-Digital-Wandler-Eingang des Mikroprozessors über einen in räumlicher Nähe zu diesem angeordneten zweiten Prüfwiderstand mit einem wahlweise mit Masse- oder Versorgungsspannungspotential verbindbaren Port-Ausgang des Mikroprozessors verbunden ist.
申请公布号 DE10220306(C1) 申请公布日期 2003.12.11
申请号 DE20021020306 申请日期 2002.05.07
申请人 LEOPOLD KOSTAL GMBH & CO KG 发明人 BLAESING, FRANK;SCHIRP, CHRISTIAN
分类号 H01L33/00;H05B33/08;H05B37/03;(IPC1-7):G01R31/02 主分类号 H01L33/00
代理机构 代理人
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