| 发明名称 | 测试高内存地址的控制电路及控制方法 | ||
| 摘要 | 本发明是提出一种测试高内存地址的控制电路及控制方法；其于北桥芯片中直接提供硬件的映射电路，并利用映射电路的切换，达成在大真实模式之下执行内存测试模块而能够进行4GB以上内存地址空间的测试。 | ||
| 申请公布号 | CN1460931A | 申请公布日期 | 2003.12.10 |
| 申请号 | CN03142558.5 | 申请日期 | 2003.06.11 |
| 申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 朱修明 |
| 分类号 | G06F11/00 | 主分类号 | G06F11/00 |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 潘培坤;楼仙英 |
| 主权项 | 1、一种测试高内存地址的控制电路，包括：一内存控制模块，该内存控制模块分成多个内存区块；一中央处理单元，用以执行一内存测试模块，其可发出多个数据写入命令以及多个数据读取命令用以测试该内存控制模块中的一第一内存区块；以及一北桥芯片，连接于该中央处理单元与该内存控制模块之间，用以接收这些数据写入命令与这些数据读取命令，并可选择性的执行这些数据写入命令于该内存控制模块中的一第二内存区块且由该第二内存区块响应这些内存读取命令。 | ||
| 地址 | 台湾省台北 | ||