| 发明名称 |
Test device and its method for testing dsp ics under the finished product state in a digital video apparatus |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IN191620(B) |
申请公布日期 |
2003.12.06 |
| 申请号 |
IN1997CA63519 |
申请日期 |
1997.11.04 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD. |
发明人 |
KIM BYOUNG-JIN |
| 分类号 |
G01R31/00;H05K13/08;(IPC1-7):H05K13/08 |
主分类号 |
G01R31/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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