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发明名称 VERFAHREN UND APPARAT ZUM TEST VON IMPEDANZ-KONTROLLIERTEM I/O BUFFER AUF HÖCHST EFFIZIENTE WEISE
摘要
申请公布号 DE60002079(T2) 申请公布日期 2003.12.04
申请号 DE20006002079T 申请日期 2000.05.16
申请人 SUN MICROSYSTEMS, INC. 发明人 ELACHKAR, M.;LE, THOMAS
分类号 G01R31/30;H03K19/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
主权项
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