发明名称 |
Verfahren zum Messen der Genauigkeit eines Taktsignals |
摘要 |
Eine Schaltung zum Messen der Genauigkeit zum Messen eines Taktsignals hat eine erste digitale phasenverriegelte Schleife, die ein Eingangssignal empfängt und ein Ausgangssignal zur Verfügung stellt, und eine zweite digitale phasenverriegelte Schleife, die an ihrem Eingang das Ausgangssignal von der ersten phasenverriegelten Schleife empfängt. Einer oder mehrere Meßanschlüsse werden intern mit einer der phasenverriegelten Schleifen verbunden, um ein Meßsignal zur Verfügung zu stellen.
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申请公布号 |
DE10302233(A1) |
申请公布日期 |
2003.12.04 |
申请号 |
DE20031002233 |
申请日期 |
2003.01.20 |
申请人 |
ZARLINK SEMICONDUCTOR INC., CITY OF OTTAWA |
发明人 |
VAN DER VALK, ROBERTUS LAURENTIUS |
分类号 |
H03L7/07;H04L7/033;(IPC1-7):H04L12/26 |
主分类号 |
H03L7/07 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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