| 发明名称 |
Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten mit einem Paralleltester und eine Vorrichtung zum Ausführen des Verfahrens |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10043726(C2) |
申请公布日期 |
2003.12.04 |
| 申请号 |
DE20001043726 |
申请日期 |
2000.09.05 |
| 申请人 |
ATG TEST SYSTEMS GMBH & CO. KG REICHOLZHEIM |
发明人 |
LUTZ, GUENTER |
| 分类号 |
G01R1/06;G01N21/956;G01R31/02;G01R31/28;G01R31/302;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/309;H05K13/08 |
主分类号 |
G01R1/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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