发明名称 | 一种差动IQ信号分析的测试方法 | ||
摘要 | 一种差动IQ信号分析的测试方法,包括:第一信号平衡不平衡转换器以第一连接线来连接于I+信号线及以第二连接线来连接于I-信号线,于第一信号平衡不平衡转换器的另侧设置一测试端;以第二信号平衡不平衡转换器以第一连接线连接于Q+信号线及以第二连接线连接于Q-信号线,并于第二信号平衡不平衡转换器的另侧设置一测试端;二信号平衡不平衡转换器连接于I的二信号线(I+、I-)与Q的二信号线(Q+、Q-)。本发明可用以简化信号线以减少量测时分析复杂度,有助于快速取得电路上信号线的信号值。 | ||
申请公布号 | CN1459936A | 申请公布日期 | 2003.12.03 |
申请号 | CN02120049.1 | 申请日期 | 2002.05.17 |
申请人 | 神达电脑股份有限公司 | 发明人 | 郑添乾 |
分类号 | H04B17/00 | 主分类号 | H04B17/00 |
代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 任永武 |
主权项 | 1.一种差动IQ信号分析的测试方法,于一电路板上设置有第一IC与第二IC,并于第一IC与第二IC之间设置有四条信号线,该四信号线包括有:I+信号线、I-信号线、Q+信号线及Q-信号线,其特征在于:第一信号平衡不平衡转换器以第一连接线来连接于I+信号线及以第二连接线来连接于I-信号线,并于第一信号平衡不平衡转换器的另侧设置一测试端;再以第二信号平衡不平衡转换器以第一连接线来连接于Q+信号线及以第二连接线来连接于Q-信号线,并于第二信号平衡不平衡转换器的另侧设置一测试端;以示波器于测量时,以其所连接的第一测试线与第二测试线进行量测,以第一测试线前方所设置的第一测试棒接触于第一信号平衡不平衡转换器的测试端;相对地,示波器第二测试线的第二测试棒,接触于第二信号平衡不平衡转换器的测试端,而该测试信号值于示波器上进行一显示;二信号平衡不平衡转换器连接于I的二信号线(I+、I-)与Q的二信号线(Q+、Q-)。 | ||
地址 | 台湾省新竹县新竹科学园区研发二路1号 |