发明名称 ELECTRON BEAM MASK, SUBSTRATE THEREFOR, AND ELECTRON BEAM MASK BLANK
摘要
申请公布号 KR20030091731(A) 申请公布日期 2003.12.03
申请号 KR20030032356 申请日期 2003.05.21
申请人 发明人
分类号 H01L21/027;B81B3/00;G03F1/20;G03F1/68;G03F1/80 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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