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发明名称
ELECTRON BEAM MASK, SUBSTRATE THEREFOR, AND ELECTRON BEAM MASK BLANK
摘要
申请公布号
KR20030091731(A)
申请公布日期
2003.12.03
申请号
KR20030032356
申请日期
2003.05.21
申请人
发明人
分类号
H01L21/027;B81B3/00;G03F1/20;G03F1/68;G03F1/80
主分类号
H01L21/027
代理机构
代理人
主权项
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