发明名称 |
可均一输入输出数据的非易失性半导体存储装置 |
摘要 |
半导体存储装置向存储块内的特定的存储单元进行写入动作时,在施加规定期间写入电压后,采用读出放大器电路及比较器进行校验动作。根据校验动作的结果,判断向存储单元的写入不足时,根据存储控制电路的指示再次进行写入动作。此时,存储控制电路调节写入电压。 |
申请公布号 |
CN1459863A |
申请公布日期 |
2003.12.03 |
申请号 |
CN03104321.6 |
申请日期 |
2003.01.30 |
申请人 |
三菱电机株式会社 |
发明人 |
加藤宏;带刀康彦;大石司;大谷顺 |
分类号 |
H01L27/10;H01L27/115;H01L21/8247;G11C16/00;G11C14/00 |
主分类号 |
H01L27/10 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
杨凯;叶恺东 |
主权项 |
1.一种非易失性半导体存储装置,包括:半导体基片,包含行列状配置的非易失性的多个存储单元的多个存储块,与上述多个存储单元的行方向对应地排列的多根字线,与上述多个存储单元的列方向对应地排列的多根位线,在写入动作时对上述多个存储单元进行写入动作的控制电路;上述多个存储单元各自包括:在上述半导体基片的主表面形成,与上述多根位线中对应的位线连接的第1及第2导电区域,绝缘膜,其处于上述半导体基片上,且在上述第1导电区域和上述第2导电区域之间形成,在上述第1导电区域附近具有第1存储区域,上述第2导电区域附近具有第2存储区域;上述控制电路向从上述多个存储单元中选择的存储单元施加1个以上的脉冲电压。 |
地址 |
日本东京都 |