发明名称 生产管理方法
摘要 本发明系有关于一种生产管理方法,其目的在于提供一种生产管理方法,在程序群上共用装置群,并改善隘路程序或限制程序的能力时,在该程序群确保对于前程序之停止上最适当之安全规模,进一步在包含该如此程序群之生产线全体上确保最大之生产能力,且可预测备号,使之最小化者。本发明之生产管理方法系在于一部分含有隘路程序或限制程序,且藉装置之共用关系使于前述隘路程序或限制程序与另一程序间相互可作能力收授之程序群中,求出前述程序群中对于各程序之产品处理能力之必要产品处理数之比率之负载率,使前述各程序之负载率约略相等之状态下,计算对于前述装置之各程序上之最优使用比率,使前述各装置之各程序下之使用比率与前述最优使用比率约略相等之状态下,订定前述各程序之处理安排,并使处于生产计画之对象期间中之前述各程序间之负载约略均等化。
申请公布号 TW564334 申请公布日期 2003.12.01
申请号 TW090122146 申请日期 2001.09.06
申请人 富士通显示技术股份有限公司 发明人 渡边和广;北野胜;太田雄一郎;宫崎克行;石井英夫
分类号 G05B19/00 主分类号 G05B19/00
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼;陈文郎 台北市松山区南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种生产管理方法,系在于一部分含有隘路程序或限制程序,且藉装置之共用关系使于前述隘路程序或限制程序与另一程序间相互可作能力收授之程序群中,求出前述程序群中对于各程序之产品处理能力之前述各程序之必要产品处理数之比率之负载率,作为中日程生产计画之对象之处于运转期间整体上相对于前述各程序之累积能力下之前述各程序之累积生产安排之比率,使前述各程序之负载率约略相等之状态下,计算对于前述装置之各程序上之最优使用比率,使处于前述运转期间之前述各装置之各程序下之使用比率与前述最优使用比率约略相等之状态下,订定前述各程序之处理安排,并使处于生产计画之对象期间中之前述各程序间之负载约略均等化。2.一种生产管理方法,系在于多数隘路程序或限制程序间藉装置之共用关系而可相互作能力收授之程序群中,求出前述程序群中对于各程序之产品处理能力之前述各程序之必要产品处理数之比率之负载率,作为中日程生产计画之对象之处于运转期间整体上相对于前述各程序之累积能力下之前述各程序之累积生产安排之比率,使前述各程序之负载率约略相等之状态下,计算对于前述装置之各程序上之最优使用比率,使处于前述运转期间之前述各装置之各程序下之使用比率与前述最优使用比率约略相等之状态下,订定前述各程序之处理安排,并使处于生产计画之对象期间中之前述各程序间之负载约略均等化。3.如申请专利范围第2项之生产管理方法,其系于订定前述各程序之处理安排后,在于前述程序群以外之程序的规模超过基本规模时,在能力范围内进行约略最大限度之处理,而在前述规模在于前述基本规模内时,则订定前述程序群以外之程序的处理安排,以进行平准化之处理。4.一种生产管理方法,系于多数隘路程序或限制程序间藉装置之共用关系而可作相互收授能力之程序群中,以处理顺序靠近投入口开始,令前述程序群之各程序为程序pn(n=1,2,…,i-1,i,i+1,…);前述程序pi之前一规模系指位于前述程序p(i-1)与前述程序pi间之程序,且作成约略等于针对与定期维修或附带作业所产生之停止时间相对应之安全规模最多之程序pj下之安全规模与前述程序pi之基本规模之和者。5.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中该程序群之各程序为隘路程序时,将与全程序中与因突发故障所产生之停止时间相对应之安全规模最多之程序的安全规模约略相等之规模加算至前述程序群中之任一程序的前一规模者。6.如申请专利范围第5项之生产管理方法,其中将前述规模分散加算至前述程序群之任一多数程序之前一规模者。7.如申请专利范围第5项之生产管理方法,其中一面将前述程序群之程序之前一规模保持在约略一定的总合下一面使其变动者。8.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中令前述程序群之各程序为限制程序,且前述程序群以外之程序为隘路程序时,将和与由前述隘路程序靠投入口侧之程序中因突发故障所造成之停止时间相对应之安全规模最多之程序之安全规模约略相等之规模及前述隘路程序群之基本规模之和,作为前述隘路程序之适当规模。9.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中假设来自前述程序pj之前一程序的每日接收数在中日程生产计画之对象期间内已经平准化,且前述程序pj的装置的安全规模最多,从而,受到停止时间之影响最大且进入停止前之规模等于前述程序pj之基本规模时,由以处理前述程序pj之各装置之维修及附带作业安排之日程为基础所订定之前述程序pj之每日处理安排,计算出前述程序pj之规模可递性,并假设与前述程序pj之每日处理安排相同之数目形成前述程序pj之每日接收数,且前述程序pj之装置换算成安全规模之数目最多,从而,受到停止时间之影响最大进入停止之前一程序pi的规模等于对于前述程序pj的装置停止之安全规模数与前述程序pi之基本规模之和时,由前述程序pi之每日处理安排计算前述程序pi之规模可递性,对于前述程序群之全程序计算前述程序pi与前述程序pj之规模,将前述规模可递性之平均规模设定为前述程序pi与前述程序pj之适当规模。10.如申请专利范围第9项之生产管理方法,其中在计算前述程序pi与前述程序pj之适当规模之后,将其他程序之适当规模假设等于前述其他程序之基本规模,对于生产线之全程序设定适当规模;对于前述全程序合计适当规模后,订定前述生产线之适当总规模;管理前述生产线全体之出货数与投入数,使前述生产线之总规模与前述适当总规模约略相等。11.如申请专利范围第10项之生产管理方法,其中当前述生产线之总规模与前述适当总规模之间发生偏差时,调整前述出货数与前述投入数,以使前述偏差减少者。12.如申请专利范围第9项之生产管理方法,其中管理前述生产线之总规模,并由前述生产线的总规模预测进行生产计画的作成与按期交货的管理。13.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中处于前述程序群以外之程序,在由前述程序pi靠出货口侧且由前述程序p(i+1)靠投入口侧中任一程序上因装置之长时间停止等之故障而发生处理不足时,将由于前述程序pi靠出货口侧之前述程序群之产品等待所造成之处理量减少而形成剩余的能力划分至前述程序pi或由前述程序pi靠投入口侧之前述程序群之各程序,以防止前述工程群之总处理能力的损失。14.如申请专利范围第13项之生产管理方法,其中为使由前述程序pi靠投入口侧之前述程序群之各程序的处理量增加,在生产线之总规模设置一定之容许上限,使前述总规模收敛于前述容许上限之范围内之下,增加来自一定期间投入口之产品投入量。15.如申请专利范围第14项之生产管理方法,其中前述容许上限系由下列方式订定,即:由前述容许上限减去正常状态下之总规模后之差之规模量除以由前述程序群之程序pi靠出货口侧之程序数后之値,形成前述程序群之平均能力与仅次于前述程序群形成准障碍之程序的能力间之月平均之能力差;而,使将在前述容许上限内增加之前述总规模挪用于前述程序pi或由前述程序pi靠投入口侧之前述程序群之各程序上有故障时之能力量,在故障复旧后藉由前述程序pi回到出货口侧之前述程序群之各程序,使由前述程序pi之出货口侧之各程序的处理量增加,使出货比投入增加,使其减少到正常时的规模数为止。16.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中令于前述程序p1之前设定之安全规模在通常时为0,且令前述程序p1之前一规模在通常下为基本规模,仅在接近前述程序p1与投入口间之程序的装置维修停止安排日时,增加一定期间投入,确保对于维修停止之安全规模。17.如申请专利范围第16项之生产管理方法,其中前述一定期间,系以由前述程序pi靠投入口侧之各程序中能力最小之程序之日平均处理能力与日平均处理安排数之差,除以于前述程序p1之前设定之安全规模之日数。18.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中前述程序pj之安全规模比前述程序pi之原先的安全规模与前述程序p(i+1)的安全规模中较少之一方的规模还多时,将前述程序群中前述程序pi之前设定之通常时之安全规模,作为前述程序pi之原先的安全规模与前述程序p(i+1)的安全规模之差(但是变成负时为0),则将通常时之前一规模作为只有基本规模;仅在接近前述程序p(i-1)与前述程序pi间之程序的装置维修停止安排日时,使第1一定期间减少前述程序pi的处理量,且将剩余处理能力划分到前述程序pj,确保对于维修停止之安全规模;在维修日以后之第2一定期间再度减少前述程序p(i-1)的处理量,将该剩余处理能力划分到前述程序pj,进行前述程序pi之回复。19.如申请专利范围第18项之生产管理方法,其中前述第1一定期间,系将由前述程序pi开始以一天为单位划分到前述程序pj之前述剩余处理能力,除以前述程序pi之前一安全规模后所得之値。20.如申请专利范围第19项之生产管理方法,其中前述第2一定期间,系由前述程序p(i-1)与前述pi间发生装置维修之程序开始将在前述维修时积压之规模送进到前述程序pi时所需之天数。21.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中前述程序pj之安全规模,比前述程序pi之原先的安全规模与前述程序P(i+1)的安全规模中较少之一方规模还少时;令前述程序群中前述程序pi之前设定之通常时的安全规模,作为前述程序pi之原先的安全规模与前述程序pj的安全规模之差(但是变成负时为0),且将通常时之前一规模为只有基本规模;仅在接近前述程序pi与前述程序p(i-1)间之程序的装置维修停止安排日时,第1一定期间减少前述程序pi的处理量,将其剩余处理能力划分到前述程序pj,确保对于维修停止之安全规模;在维修日以后之第2一定期间再度使前述程序pj的处理量减少,将其剩余处理能力划分到前述程序pi,进行前述程序pi之回复。22.如申请专利范围第4项之生产管理方法,其中使前述程序pi与前述程序pj之合计规模约略一定之状态下,前述程序pi及前述程序pj使用共通的储藏室或保管架,以于前述pj上使用之装置处于长时间停止时增加前述程序pj之规模并减少前述pi之规模,在长时间停止后在前述程序pj上使用之装置运转到最大,将规模移动到前述程序pi后,增加前述程序pi之规模,且减少前述程序pj之规模。23.如申请专利范围第1项之生产管理方法,其中前述藉装置之共用关系而可做相互能力收授之程序群为光蚀法之图案形成程序群。24.一种平板显示用基板或半导体装置之制造方法,其特征在于:在多数程序中使用有共通装置之平板显示用基板或半导体装置之制造方法中,系使用申请专利范围第1项之生产管理方法。25.一种TFT基板之制造方法,其特征在于:在于基板上配置成矩阵状之多数画素之每一像素上形成TFT之TFT基板之制造方法中,系使用申请专利范围第1项之生产管理方法。图式简单说明:第1(a)-1(b)图系用以说明本发明一实施形态之实施例1之生产管理方法之表。第2(a)-2(b)图系用以说明本发明一实施形态之实施例1之生产管理方法之表。第3图系用以说明本发明一实施形态之实施例2之生产管理方法之表。第4图系用以说明本发明一实施形态之实施例2之生产管理方法之表。
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