| 摘要 |
Es wird ein Atomkraftmikroskop zum Untersuchen einer Probe beschrieben, Das Atomkraftmikroskop umfaßt eine Sondenanordnung, die eine erste Spitze und eine zweite Spitze umfaßt, die jeweils auf eine Oberfläche einer Probe gerichtet sind. Das AFM umfaßt ferner eine Quelle zum Anlegen eines Potentials über die erste Spitze und die zweite Spitze; zumindest einen Mechanismus, der wirksam ist, um eine relative Bewegung zwischen der Oberfläche und der Sonde zu bewirken; und zumindest einen Sensor, der wirksam ist, um einen zwischen der ersten Spitze und der zweiten Spitze fließenden Strom zu erfassen. |
