SYSTEM FOR TESTING DIGITAL COMPONENTS

摘要

Zum Testen von Digitalbausteinen mit Funktionselementen werden diese in Testeinheiten (3) aufgeteilt, die jeweils Eingänge und Ausgänge aufweisen. Die Eingänge der Testeinheiten (3) werden mit wechselnden Testmustern beaufschlagt und die sich dabei ergebenden Testantworten an den Ausgängen der Testeinheiten (3) ausgewertet. Dabei tritt der Effekt auf, dass sich nicht Änderungen an allen Eingängen einer Testeinheit (3) auf einen bestimmten Ausgang dieser Testeinheit (3) auswirken. Für jeden Ausgang der Testeinheit (3) kann ein Kegel (5) definiert werden, dessen Spitze von dem bestimmten Ausgang der Testeinheit (3) gebildet wird und dessen Basis die Eingänge der Testeinheit (3) umfasst, an denen alleine sich Änderungen auf den bestimmten Ausgang auswirken. Erfindungsgemäss wird dabei das Testmuster zum Beaufschlagen der Eingänge der Testeinheit (3) aus Submustern aufgebaut, deren Länge insbesondere <= der Anzahl der in der Basis eines Kegels (5) enthaltenen Eingänge der Testeinheit (3) ist. Bei der Auswahl der Submuster können auf Grund deren geringer Länge alle möglichen Kombinationen herangezogen werden, so dass mit geringem Aufwand schnell eine umfassende Funktionsprüfung der Testeinheit (3) durchgeführt werden kann. Diese Testfunktion kann in einem Digitalbaustein insbesondere durch eine Selbsttesteinheit (1) implementiert werden, die den Rest des Digitalbausteins in einen Testmodus umschalten kann und die Testmuster ausgehend von Submustern generieren und zur Beaufschlagung einer Testeinheit (3) in ein Testmusterausgaberegister (2) laden und die sich daraufhin an den Ausgängen der Testeinheit (3) ergebende Testantwort mittels einer Auswerteeinheit (16) auswerten oder zur Auswertung einlesen kann.