发明名称 Verfahren zum Herstellen einer integrierten Schaltung und integrierte Schaltung mit einem Bipolartransistor und einem Heterobipolartransistor
摘要 Zur Integration eines npn-Bipolartransistors mit einem Heterobipolartransistor wird nach einer Strukturierung (320) einer Kollektorstruktur für beide Transistortypen eine Platzhalterschicht in einem Basisbereich des Heterobipolartransistors erzeugt (322), wobei die Platzhalterschicht in einem Basisbereich des Bipolartransistors nicht vorhanden ist. Nach einer Erzeugung (324) der Basis des Bipolartransistors wird die Basis des Bipolartransistors abgedeckt (326), woraufhin die Platzhalterschicht entfernt wird und die Basis (328) des Heterobipolartransistors dort erzeugt wird, wo die Platzhalterschicht entfernt worden ist. Die Emitterstruktur wird wieder für beide Transistortypen gleich erzeugt (330), so daß sich eine integrierte Schaltung ergibt, die Bipolartransistoren und Heterobipolartransistoren umfaßt, deren Kollektorstrukturen und/oder deren Emitterstrukturen aus identischen Herstellungsschichten bestehen. Damit können platzsparende und preisgünstige integrierte Schaltungen hergetellt werden, die von den Vorteilen beider Transistortypen profitieren.
申请公布号 DE10221416(A1) 申请公布日期 2003.11.27
申请号 DE20021021416 申请日期 2002.05.14
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 WAGNER, CAJETAN;DAHL, CLAUS;MUELLER, KARL-HEINZ
分类号 H01L21/8222;H01L21/8249;H01L27/06;H01L27/082;(IPC1-7):H01L21/822;H01L21/824 主分类号 H01L21/8222
代理机构 代理人
主权项
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