发明名称 Photosensitive Polymere, diese umfassende Resist-Zusammensetzungen und Verfahren zur Herstellung von Photoresist-Mustern
摘要 Eine Resist-Zusammensetzung schließt einen Photosäure-Erzeuger (PAG) und ein photosensitives Polymer ein. Das photosensitive Polymer schließt ein Comonomer mit einer säure-labilen Substituenten-Gruppe oder einer polaren funktionellen Gruppe und ein Copolymer aus Alkylvinylether und Maleinsäureanhydrid ein. Das Copolymer wird wiedergegeben durch die folgende Struktur: DOLLAR F1 worin k eine ganze Zahl von 3 bis 8 ist und worin X ein tertiärer cyclischer Alkohol mit 7 bis 20 Kohlenstoff-Atomen ist.
申请公布号 DE10249006(A1) 申请公布日期 2003.11.20
申请号 DE2002149006 申请日期 2002.10.21
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 CHOI, SANG-JUN;KIM, HYUN-WOO;MOON, JOO-TAE;WOO, SANG-GYUN
分类号 G03F7/004;C08F216/14;C08F216/20;C08F220/18;C08F222/06;G03F7/039;H01L21/027;(IPC1-7):G03F7/039 主分类号 G03F7/004
代理机构 代理人
主权项
地址