发明名称 |
Photosensitive Polymere, diese umfassende Resist-Zusammensetzungen und Verfahren zur Herstellung von Photoresist-Mustern |
摘要 |
Eine Resist-Zusammensetzung schließt einen Photosäure-Erzeuger (PAG) und ein photosensitives Polymer ein. Das photosensitive Polymer schließt ein Comonomer mit einer säure-labilen Substituenten-Gruppe oder einer polaren funktionellen Gruppe und ein Copolymer aus Alkylvinylether und Maleinsäureanhydrid ein. Das Copolymer wird wiedergegeben durch die folgende Struktur: DOLLAR F1 worin k eine ganze Zahl von 3 bis 8 ist und worin X ein tertiärer cyclischer Alkohol mit 7 bis 20 Kohlenstoff-Atomen ist.
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申请公布号 |
DE10249006(A1) |
申请公布日期 |
2003.11.20 |
申请号 |
DE2002149006 |
申请日期 |
2002.10.21 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
CHOI, SANG-JUN;KIM, HYUN-WOO;MOON, JOO-TAE;WOO, SANG-GYUN |
分类号 |
G03F7/004;C08F216/14;C08F216/20;C08F220/18;C08F222/06;G03F7/039;H01L21/027;(IPC1-7):G03F7/039 |
主分类号 |
G03F7/004 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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